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J-GLOBAL ID:200903017333629408
基板乾燥方法と乾燥槽と洗浄装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐藤 隆久
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994002683
Publication number (International publication number):1995211686
Application date: Jan. 14, 1994
Publication date: Aug. 11, 1995
Summary:
【要約】【目的】 ウェーハなどの基板の両面を良好に且つ短時間で乾燥させることができ、枚葉式ウェーハ洗浄装置に用いて好適なウェーハ乾燥方法と乾燥槽と洗浄装置とを提供すること。【構成】 乾燥すべきウェーハなどの基板に対し、アルコール系蒸気を吐出し、基板を乾燥させる。アルコール系蒸気としては、イソプロピルアルコール蒸気を用いる。ウェーハを回転させつつ、当該ウェーハに対して、アルコール系蒸気を吐出することが好ましい。ウェーハに対して、アルコール系蒸気を吐出する前に、前記ウェーハを比較的低速で回転させることが好ましい。アルコール系蒸気を吐出した後には、アルコール系蒸気を吐出することなく、比較的高速でウェーハを回転させることもできる。
Claim (excerpt):
枚葉式に基板を乾燥する方法において、乾燥すべき基板に対し、アルコール系蒸気を吐出し、基板を乾燥させる基板乾燥方法。
IPC (6):
H01L 21/304 351
, H01L 21/304
, H01L 21/304 341
, B08B 3/02
, B08B 3/10
, F26B 21/14
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
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スピン洗浄乾燥方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-119604
Applicant:島田理化工業株式会社
-
半導体基板の液体による処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-103737
Applicant:ソニー株式会社
-
基板乾燥方法および基板乾燥装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-120939
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
Cited by examiner (2)
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スピン洗浄乾燥方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-119604
Applicant:島田理化工業株式会社
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半導体基板の液体による処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-103737
Applicant:ソニー株式会社
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