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J-GLOBAL ID:200903018793693798

半導体装置とその製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 尾身 祐助
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999085233
Publication number (International publication number):2000277522
Application date: Mar. 29, 1999
Publication date: Oct. 06, 2000
Summary:
【要約】【課題】 スルーホール開口時に露出するAl側面から、タングステン成膜時の高温環境下にてAlウィスカーが発生することを防止し、また、タングステン成長時の原料ガスとAlが反応するのを防止して、製造歩留まりと信頼性の向上を図る。【解決手段】 スルーホールに対して下層配線がオーバーラップマージンを持たないパッドレススルーホールの場合、Al膜の側面がスルーホール9開孔により露出する(b)。窒素プラズマを照射することにより、窒化処理を行い露出したAl膜4側面に窒化層4bを形成する(c)。タングステンプラグを形成するために、バリアメタル10とタングステン膜11を堆積する(d)。
Claim (excerpt):
半導体基板上に形成された第1の層間絶縁膜と、前記第1の層間絶縁膜上に形成された、上表面に反射防止膜を有する下層アルミニウム配線と、前記第1の層間絶縁膜上および前記下層アルミニウム配線上を覆う、前記下層アルミニウム配線の表面を露出させるスルーホールが開設された第2の層間絶縁膜と、前記スルーホール内を充填する導電層を介して前記下層アルミニウム配線と接続された、前記第2の層間絶縁膜上に延在する上層アルミニウム配線と、を有する半導体装置において、前記下層アルミニウム配線の側面の前記導電層と接触する部分には不働態化膜が形成されていることを特徴とする半導体装置。
IPC (3):
H01L 21/3205 ,  H01L 21/28 301 ,  H01L 21/768
FI (3):
H01L 21/88 N ,  H01L 21/28 301 R ,  H01L 21/90 A
F-Term (68):
4M104BB03 ,  4M104BB14 ,  4M104BB18 ,  4M104BB25 ,  4M104BB28 ,  4M104BB30 ,  4M104DD08 ,  4M104DD09 ,  4M104DD37 ,  4M104DD43 ,  4M104DD65 ,  4M104DD88 ,  4M104EE08 ,  4M104EE12 ,  4M104EE17 ,  4M104FF06 ,  4M104FF13 ,  4M104FF17 ,  4M104FF18 ,  4M104FF22 ,  4M104HH15 ,  4M104HH20 ,  5F033HH08 ,  5F033HH09 ,  5F033HH18 ,  5F033HH23 ,  5F033HH27 ,  5F033HH28 ,  5F033HH33 ,  5F033JJ18 ,  5F033JJ19 ,  5F033JJ23 ,  5F033JJ27 ,  5F033JJ28 ,  5F033JJ33 ,  5F033KK08 ,  5F033KK09 ,  5F033KK18 ,  5F033KK23 ,  5F033KK27 ,  5F033KK28 ,  5F033KK33 ,  5F033MM05 ,  5F033MM13 ,  5F033NN06 ,  5F033NN07 ,  5F033NN12 ,  5F033PP06 ,  5F033PP15 ,  5F033QQ08 ,  5F033QQ09 ,  5F033QQ13 ,  5F033QQ14 ,  5F033QQ19 ,  5F033QQ24 ,  5F033QQ37 ,  5F033QQ48 ,  5F033QQ78 ,  5F033QQ90 ,  5F033QQ92 ,  5F033QQ94 ,  5F033RR04 ,  5F033RR06 ,  5F033SS11 ,  5F033SS15 ,  5F033WW03 ,  5F033XX09 ,  5F033XX31
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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