Pat
J-GLOBAL ID:200903020117458098
検査装置における良品判定基準設定方法及び判定処理精度判定方法並びに、良品判定基準設定装置及び判定処理精度判定装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (4):
鈴木 正次
, 涌井 謙一
, 山本 典弘
, 鈴木 一永
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004381336
Publication number (International publication number):2006184254
Application date: Dec. 28, 2004
Publication date: Jul. 13, 2006
Summary:
【課題】検査計量値を基に検査対象物の良否を判定する検査装置において「不良品を良品であると判定してしまう」ことをなくすことが可能な良品判定基準設定方法及び良否判定基準設定装置、検査を行っている過程で初期に設定された判定制度が維持されているかどうかを判定する判定処理の精度判定方法及び装置。【解決手段】検査装置を用いてあらかじめ良品計量値の分布と不良品計量値の分布とを把握し両者を同一の画面上に表示して比較し良品判定基準を設定する。あらかじめ複数の良品から良品平均値MGと良品標準偏差σGとを求めておき複数の検査対象物について検査平均値MSと検査標準偏差σSとを求め良品平均値MGを中心として予め定められている範囲に設定されている良品平均範囲と検査平均値MSとを比較する及び/または良品標準偏差σGを中心として予め定められている範囲に設定されている良品標準偏差範囲と検査標準偏差σSとを比較する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
検査対象物の良否を判定する検査装置において、検査対象物が良品であるか不良品であるかを判定する良品判定基準を設定する良品判定基準設定方法であって、
複数の良品について当該検査装置を用いて得た良品計量値の分布と、複数の不良品について当該検査装置を用いて得た不良品計量値の分布とを求め、
両者を比較して良品判定基準を設定する検査装置の良品判定基準設定方法。
IPC (3):
G01N 21/88
, G01N 21/93
, G06T 1/00
FI (3):
G01N21/88 J
, G01N21/93
, G06T1/00 300
F-Term (12):
2G051AB02
, 2G051CA04
, 2G051EB02
, 2G051EC02
, 5B057AA04
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CH01
, 5B057DA03
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC36
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
画像検査装置及び画像検査方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-307942
Applicant:新日本製鐵株式会社
Cited by examiner (5)
-
良否判別しきい値決定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-137240
Applicant:松下電器産業株式会社
-
良否判定装置、良否判定プログラムおよび良否判定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-242544
Applicant:トヨタ自動車株式会社, 名古屋電機工業株式会社
-
絶縁被覆電線の劣化検出方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-017285
Applicant:日本電信電話株式会社
Show all
Return to Previous Page