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J-GLOBAL ID：200903020220104881

光ファイバ分布型測定方法及びその装置

Inventor：
石岡 昌人

About 石岡 昌人

, 
飯山 宏一

About 飯山 宏一


Applicant, Patent owner：
三菱重工業株式会社

About 三菱重工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001294865
Publication number (International publication number)：2003098037
Application date： Sep. 26, 2001
Publication date： Apr. 03, 2003
Summary：
【要約】【課題】ブリルアン散乱現象の位置の空間分解能の向上及び被測定物理量の測定精度を高めること。【解決手段】FM光Lをポンプ光P1とプローブ光P2とに分配し、ポンプ光P1をセンシング用光ファイバ7の一端から入射し、プローブ光P2をブリルアン周波数近傍まで変調してセンシング用光ファイバ7の他端から入射し、ポンプ光P1とプローブ光P4とがセンシング用光ファイバ7中を互いに対向する方向から伝搬したときに生じる誘導ブリルアンによって被測定物理量の情報を受けて被測定光P6として伝搬し、この被測定光P6とプローブ光P5との合波光P7におけるビート信号の周波数値から被測定物理量の発生個所を特定し、かつプローブ光P2の離調幅を変化させたときのビート信号の強度変化に基づいて被測定物理量を求める。
Claim (excerpt)：
被測定物理量の空間分布を求めるセンシング用光ファイバ中で発生するブリルアン散乱現象の変化を捉えて被測定物理量の空間分布を求める光ファイバ分布型測定方法において、光源からの光を周波数変調してポンプ光とプローブ光とに分配する工程と、前記ポンプ光を前記センシング用光ファイバの一端から入射する工程と、前記プローブ光をブリルアン周波数近傍まで変調して前記センシング用光ファイバの他端から入射する工程と、前記ポンプ光と前記プローブ光とが前記センシング用光ファイバ中を互いに対向する方向から伝搬したときに生じる誘導ブリルアンによって、前記プローブ光は前記被測定物理量の情報を受けて被測定光として伝搬し、この被測定光と前記プローブ光とを合波する工程と、この合波光におけるビート信号の周波数値から前記被測定物理量の発生個所を特定し、かつ前記プローブ光の離調幅を変化させたときの前記ビート信号の強度変化に基づいて前記被測定物理量を求める工程と、を有することを特徴とする光ファイバ分布型測定方法。
IPC (4)：
G01M 11/00 ,  G01B 11/16 ,  G01D 5/26 ,  G02B 6/00
FI (4)：
G01M 11/00 U ,  G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G02B 6/00 B
F-Term (28)：
2F065AA01 ,  2F065AA20 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065DD03 ,  2F065FF41 ,  2F065FF58 ,  2F065FF61 ,  2F065GG06 ,  2F065LL00 ,  2F065LL02 ,  2F065LL22 ,  2F065LL37 ,  2F065LL67 ,  2F103BA37 ,  2F103CA06 ,  2F103CA07 ,  2F103EB02 ,  2F103EB19 ,  2F103EC09 ,  2F103EC10 ,  2F103EC12 ,  2F103EC13 ,  2F103EC16 ,  2G086DD04 ,  2G086DD05 ,  2H038AA01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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