形状測定装置及び形状測定用画像形成装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：田辺徹
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997147059
Publication number (International publication number)：1998318732
Application date： May. 22, 1997
Publication date： Dec. 04, 1998
Summary：

【要約】【課題】標定から三次元計測までを自動的に効率良く高精度で行う。【解決手段】基準となる特徴パターンが設けられた測定対象物を異なる方向から撮影した一対の第1撮影画像と、基準となる特徴パターンが設けられていない測定対象物を第1撮影画像の撮影方向と同じ方向から撮影した一対の第2撮影画像とに基づいて、各方向で得られた第1撮影画像と第2撮影画像との差をとり特徴パターンを抽出する特徴パターン抽出部と、特徴パターン抽出部で得られた差分画像から、一対の第1撮影画像又は第2撮影画像の位置関係を求める位置関係算出部と、前記位置関係算出部で求めた位置関係に基づき、第1撮影画像又は第2撮影画像が立体視可能なステレオモデルとなるように関係付けるステレオモデル形成部と、ステレオモデル形成部で形成されたステレオモデルに基づいて対象物の形状を求める形状測定部と、から構成される形状測定装置。

Claim (excerpt)：

基準となる特徴パターンが設けられた測定対象物を異なる方向から撮影した一対の第1撮影画像と、基準となる特徴パターンが設けられていない測定対象物を第1撮影画像の撮影方向と同じ方向から撮影した一対の第2撮影画像とに基づいて、各方向で得られた第1撮影画像と第2撮影画像との差をとり特徴パターンを抽出する特徴パターン抽出部と、特徴パターン抽出部で得られた差分画像から、一対の第1撮影画像又は第2撮影画像の位置関係を求める位置関係算出部と、前記位置関係算出部で求めた位置関係に基づき、第1撮影画像又は第2撮影画像が立体視可能なステレオモデルとなるように関係付けるステレオモデル形成部と、ステレオモデル形成部で形成されたステレオモデルに基づいて対象物の形状を求める形状測定部と、から構成される形状測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/24 , G06T 7/00 , G06T 7/60

FI (4)：

G01B 11/24 K , G06F 15/62 415 , G06F 15/70 350 B , G06F 15/70 455 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

3次元物体の形状計測方法及び装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-198323 Applicant：キヤノン株式会社
ステレオカメラ校正装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-222855 Applicant：株式会社明電舎
ステレオ画像間対応づけ確信度検出装置および方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-030036 Applicant：株式会社エイ・ティ・アール通信システム研究所

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