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J-GLOBAL ID:200903021091774383

光計測方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高田 幸彦 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998290878
Publication number (International publication number):2000116625
Application date: Oct. 13, 1998
Publication date: Apr. 25, 2000
Summary:
【要約】【課題】信頼性の高い多チャンネル同時計測を可能にするのに適した光計測技術を提供すること。【解決手段】光源部1から放射される光強度をそれぞれ異なる周波数で変調し被検体9の複数光照射位置に照射する。被検体から検出された光をアフォトダイオード11で電気信号に変換し、ロックイン増幅器モジュール12で変調信号を検出し、処理部17で被検体内部の情報として処理する。本計測前に準備計測として光源部から光を順次放射し、検出光の信号レベルを各光照射位置毎に計測する。その検出光間のレベル差が所定範囲内に入るように制御部19は光強度及び検出信号レベルを制御する。
Claim (excerpt):
被検体を光計測して該被検体を特徴づける複数チャンネルの信号を生成する光計測方法において、本計測を実行するステップと、該本計測に先立って準備計測を実行するステップとを含み、該準備計測ステップは前記被検体を光計測して該被検体を特徴づける複数チャンネルの信号を生成するステップと、その生成された複数チャンネルの信号を、該信号間のレベル差が所定範囲に入るように調整するステップとを含むことを特徴とする光計測方法。
IPC (3):
A61B 5/145 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/27
FI (3):
A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00 E ,  G01N 21/27 Z
F-Term (15):
2G059AA05 ,  2G059BB12 ,  2G059EE11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059JJ17 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  4C038VA05 ,  4C038VA20 ,  4C038VB02 ,  4C038VB25 ,  4C038VB40 ,  4C038VC01 ,  4C038VC17
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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