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J-GLOBAL ID：200903036720540320

生体光計測装置

Inventor：
牧 敦

About 牧 敦

, 
山下 優一

About 山下 優一

, 
小泉 英明

About 小泉 英明


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995299542
Publication number (International publication number)：1997135825
Application date： Nov. 17, 1995
Publication date： May. 27, 1997
Summary：
【要約】【課題】生体深部で検出感度が高い生体光計測装置を提供する。【解決手段】光源1-1、1-3(波長λ1)と光源1-2、1-4(波長λ2)からの光が、照射用光ファイバー5-1、5-2を介して被検者7に照射され、集光用光ファイバー8-1、8-2で集光し、検出器9-1、9-2で光電変換および増幅される。検出器9-1、9-2からの出力信号は2つに分配された後、位相検波器10-1、10-2、10-3、10-4に入力され、照射用光ファイバー5-1、5-2に対向した位置の集光用光ファイバー8-1、8-2からの各波長毎の透過光の強度が分離され、各波長ごとに乗算器11-1、11-2で乗算され、演算処理された後、演算結果が表示装置15に表示される。
Claim (excerpt)：
複数の波長の照射光を被検体の複数の照射位置に照射する複数の照射部を有する光照射手段と、前記被検体を透過した透過光を前記被検体の複数の検出位置で集光する複数の集光部であり、それぞれの前記照射部から発せられた前記照射光のそれぞれの光路が重なるように前記透過光を集光する複数の集光部を有する集光手段と、前記透過光から前記複数の光照射位置ごとにかつ前記波長ごとに前記透過光の光強度を検出する検出手段と、前記被検体の第1の所定領域の光学パラメータを検出する感度を向上させるか、あるいは前記被検体の第2の所定領域の光学パラメータを検出する感度を低下させて前記透過光の強度を演算処理する演算処理手段と、を有することを特徴とする生体光計測装置。
IPC (3)：
A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00 ,  G01N 21/27
FI (3)：
A61B 5/14 310 ,  A61B 10/00 E ,  G01N 21/27 A
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (17)
  • 特開昭64-046439
  • 特開昭57-115232
  • パルスオキシメータ
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-306281   Applicant：日本光電工業株式会社
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Cited by examiner (15)
  • 特開昭57-115232
  • 特開昭64-046439
  • 特開昭64-046439
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