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J-GLOBAL ID:200903021586669098

光波測距定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998132915
Publication number (International publication number):1999326515
Application date: May. 15, 1998
Publication date: Nov. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】 送受光同軸型の光学系であっても迷光等による測定誤差をなくした光波測距装置を提供すること。【解決手段】 パルス光を対象物に向けて送光する送光手段と、該対象物で反射された反射パルス光を受光する受光手段と、前記パルス光の送光時から受光時までの時間を計測する時間計測部とを有し、該計測した時間から対象物までの距離を求める光波測距定装置において、さらに、受光した反射パルス光の数が一つか複数かを検出するパルス数検出部を設け、該パルス数検出部が、前記パルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を検出した時の値を除外する光波測距装置とした。
Claim (excerpt):
パルス光を対象物に向けて送光する送光手段と、該対象物で反射された反射パルス光を受光する受光手段と、前記パルス光の送光時から受光時までの時間を計測する時間計測部とを有し、該計測した時間から対象物までの距離を求める光波測距定装置において、さらに、受光した反射パルス光の数が一つか複数かを検出するパルス数検出部を設け、該パルス数検出部が、前記パルス光の送光に応答して複数の反射パルス光を検出した時の値を除外することを特徴とする光波測距装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
  • 距離測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-146480   Applicant:三菱電機株式会社
  • 距離測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-159216   Applicant:日本電装株式会社
  • 特開昭60-201276
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