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J-GLOBAL ID:200903049228945840

光波測距装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 土井 健二 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997239873
Publication number (International publication number):1999084003
Application date: Sep. 04, 1997
Publication date: Mar. 26, 1999
Summary:
【要約】【課題】最大測距範囲を増大し、ノンプリズム測距能力を向上させ、かつ迷光の影響を受けない高精度な光波測距装置を提供する。【解決手段】パルス光を対象物に送光する送光手段と、前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段と、前記受光手段による受光時を検出する信号検出手段とを有し、前記送光手段による送光時から前記受光時までの時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する光波測距装置において、前記測距により求めた距離が所定の値未満の場合、前記信号検出手段は、前記受光時の検出を前記送光後所定時間以降の受光時のみを検出可能として、再度前記測距を行うことを特徴とする。
Claim (excerpt):
パルス光を対象物に送光する送光手段と、前記対象物からの反射パルス光を受光する受光手段と、前記受光手段による受光時を検出する信号検出手段とを有し、前記送光手段による送光時から前記受光時までの時間を計測し、前記対象物までの距離を測距する光波測距装置において、前記測距により求めた距離が所定の値未満の場合、前記信号検出手段は、前記受光時の検出を前記送光後所定時間以降の受光時のみを検出可能として、再度前記測距を行うことを特徴とする光波測距装置。
IPC (3):
G01S 17/10 ,  G01B 11/00 ,  G01S 7/48
FI (3):
G01S 17/10 ,  G01B 11/00 B ,  G01S 7/48 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
  • 距離測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-159216   Applicant:日本電装株式会社
  • 特開昭60-201276
  • 障害物検出装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-225997   Applicant:マツダ株式会社
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