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J-GLOBAL ID：200903021837881300

掃引波長計及び波長校正方法

Inventor：
ドゥウェイニ・アール・アンダーソン

About ドゥウェイニ・アール・アンダーソン


Applicant, Patent owner：
テクトロニクス・インコーポレイテッド

About テクトロニクス・インコーポレイテッド


Agent (2)： 山口 邦夫 ,  佐々木 榮二
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003143783
Publication number (International publication number)：2004004080
Application date： May. 21, 2003
Publication date： Jan. 08, 2004
Summary：
【課題】同調可能なレーザ用の正確な波長校正を行うと同時に、挿入損失及びリターン・ロスを決定するための正規化測定を通常の試験設定の一部として自動的に行う。【解決手段】変換器17は、所定の光波長範囲にわたる掃引レーザ用の光波長と循環的な電気信号を、この電気信号の各点に対応する波長が正確に既知であるように、掃引レーザの掃引光出力から発生する。ガス吸収セル28及び検出器30は、既知のスペクトル吸収線を用いて、掃引光出力から、電気信号用の校正基準を与える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
掃引レーザ用の実時間波長校正装置を有する掃引波長計であって、 所定の光波長範囲にわたる上記掃引レーザ用の光波長と循環的な電気信号を、該電気信号の各点に対応する波長が正確に既知であるように、上記掃引レーザの掃引光出力から発生する手段と、 既知のスペクトル吸収線を用いて、上記掃引光出力から、上記電気信号用の校正基準を与える手段と を具えた掃引波長計。
IPC (3)：
G01J3/02 ,  G01J9/02 ,  G01M11/02
FI (3)：
G01J3/02 C ,  G01J9/02 ,  G01M11/02 J
F-Term (13)：
2G020AA03 ,  2G020CA02 ,  2G020CA12 ,  2G020CB23 ,  2G020CB42 ,  2G020CC02 ,  2G020CC21 ,  2G020CD03 ,  2G020CD13 ,  2G020CD16 ,  2G020CD22 ,  2G020CD39 ,  2G086KK07
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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