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J-GLOBAL ID：200903022977112930

X線による質量測定方法及びX線質量測定装置

Inventor：
鈴木 貴志

About 鈴木 貴志


Applicant, Patent owner：
アンリツ株式会社

About アンリツ株式会社


Agent (1)： 西村 教光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001096625
Publication number (International publication number)：2002296022
Application date： Mar. 29, 2001
Publication date： Oct. 09, 2002
Summary：
【要約】【課題】 被測定物のX線透過量に基づき、所定の式から被測定物の質量を算出して、被測定物の質量測定の容易かつ簡便化を図る。【解決手段】 X線発生部3とX線検出部4との間の被測定物Wに、X線発生部3からX線を曝射し、曝射された被測定物Wを透過した透過X線をX線検出部4で検出し、検出された透過X線量Iに基づき、単位透過領域ごとに被測定物Wの質量を所定の式から算出し、算出された被測定物Wの単位透過領域ごとの単位質量を、透過X線の全透過領域に亘って積分して、被測定物Wの全体質量を算出する。
Claim (excerpt)：
X線発生部(3)とX線検出部(4)との間の被測定物(W)に、前記X線発生部からX線を曝射し、該曝射された前記被測定物を透過した透過X線を、前記X線検出部で検出し、前記検出された透過X線量(I)に基づき、単位透過領域ごとに前記被測定物の質量を下記の式から算出し、前記算出された前記被測定物の前記単位透過領域ごとの単位質量を、前記透過X線の全透過領域に亘って積分して、前記被測定物の全体質量(M)を算出することを特徴とするX線による質量測定方法。【数1】但し、I0 は曝射X線量、Iは透過X線量、xは被測定物の厚さ、μm は質量吸収係数、ρは被測定物の密度,Mは全体質量
IPC (2)：
G01B 15/02 ,  G01N 23/04
FI (2)：
G01B 15/02 A ,  G01N 23/04
F-Term (30)：
2F067AA27 ,  2F067AA58 ,  2F067AA62 ,  2F067EE10 ,  2F067FF00 ,  2F067HH04 ,  2F067JJ03 ,  2F067KK06 ,  2F067LL14 ,  2F067PP15 ,  2F067RR19 ,  2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA08 ,  2G001FA06 ,  2G001FA14 ,  2G001GA01 ,  2G001HA01 ,  2G001HA13 ,  2G001HA20 ,  2G001JA09 ,  2G001JA12 ,  2G001KA03 ,  2G001KA11 ,  2G001KA20 ,  2G001LA01 ,  2G001PA01 ,  2G001PA11
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (10)
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