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J-GLOBAL ID:200903023178026408

光学フィルムの検査方法及びこれに用いる欠陥検査用素子

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 長谷川 芳樹 ,  寺崎 史朗 ,  青木 博昭
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004155128
Publication number (International publication number):2005337814
Application date: May. 25, 2004
Publication date: Dec. 08, 2005
Summary:
【課題】 欠陥を的確に検査できる光学フィルムの検査方法を提供すること。【解決手段】 本発明は、液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルム2を含む光学フィルム1に対し、光源20から偏光板18aを通して光を照射し、光学フィルム1に対して光源20と反対側に、光源20側から光学フィルム1に向かう方向に対し液晶の配向軸が液晶フィルム2と逆方向にねじれた逆ねじれ配向液晶フィルム31と偏光板18bとを積層した欠陥検査用素子29を、逆ねじれ配向液晶フィルム31が光学フィルム1側に向けられるように配置して光学フィルム1を検査する方法である。この方法によれば、ねじれ配向液晶フィルム31を透過した光の直交成分同士間の位相差を小さくすることが可能となるため、偏光板18a、18bをクロスニコル配置すると、無欠陥部分と欠陥部分とのコントラストを大きくでき、欠陥部分の視認性を向上できる。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
液晶の配向軸が厚さ方向にねじれたねじれ配向液晶フィルムを含む光学フィルムに対し、光源から第1の偏光板を通して光を照射し、 前記光学フィルムに対して前記光源と反対側に、前記光源から前記光学フィルムに向かう方向に対し液晶の配向軸が前記ねじれ配向液晶フィルムと逆方向にねじれた逆ねじれ配向液晶フィルムと、第2の偏光板とを積層した欠陥検査用素子を、前記逆ねじれ配向液晶フィルムが前記光学フィルム側に向けられるように配置して前記光学フィルムを検査することを特徴とする光学フィルムの検査方法。
IPC (7):
G01N21/896 ,  G01M11/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/89 ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 ,  G02F1/13363
FI (7):
G01N21/896 ,  G01M11/00 T ,  G01N21/21 Z ,  G01N21/89 H ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/13363
F-Term (40):
2G051AA41 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051BA04 ,  2G051BA11 ,  2G051BA20 ,  2G051CA11 ,  2G051CB02 ,  2G051DA06 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059DD12 ,  2G059EE01 ,  2G059EE05 ,  2G059GG04 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ18 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK07 ,  2G086EE09 ,  2G086EE10 ,  2H049BA06 ,  2H049BA42 ,  2H049BB42 ,  2H049BB62 ,  2H049BC01 ,  2H049BC22 ,  2H088FA11 ,  2H088FA29 ,  2H088FA30 ,  2H088HA01 ,  2H088HA18 ,  2H088HA28 ,  2H088MA20 ,  2H091FA08X ,  2H091FA08Z ,  2H091FA11X ,  2H091LA12 ,  2H091LA30
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (6)
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