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J-GLOBAL ID:200903023180988667

X線CT装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 高崎 芳紘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002195653
Publication number (International publication number):2004033517
Application date: Jul. 04, 2002
Publication date: Feb. 05, 2004
Summary:
【課題】部位に応じたより細かい管電流制御を行なうことによって被検者への無効被曝をより高いレベルで押さえることを可能にしたX線CT装置を提供する。【解決手段】ボリュームスキャンの場合、情報取得部4はオペレータ操作卓からの設定管電流値MAinitと制御管電流値MAatmaと部位情報Partnを取得し、変動値設定部5は取得した情報をパラメータ[Partn,MAinit]として、例えば頭部の管電流上限値aと管電流下限値b ́からなる変動幅[a,b ́]を入手し、比較部6は入手した変動幅[a,b ́]と制御管電流値MAatmaとの比較を行ない、判定部7では管電流下限値T2<制御管電流値MAatma≦管電流上限値T1の条件に該当するため、管電流下限値b ́に変更した制御管電流値MAatma ́を管電流制御幅変更手段からX線管の管電流制御部3に与える。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被検体を介して対向配置したX線源および検出器を有した回転ユニットと、上記X線源のX線制御回路にX線曝射中に管電流を自動制御する自動管電流制御手段とを備えたX線CT装置において、上記自動管電流制御手段に、一度のボリュームスキャンで被検体の軸方向の部位に応じて管電流下限値を変動可能に設定する管電流制御幅変更手段を設けたことを特徴とするX線CT装置。
IPC (1):
A61B6/03
FI (1):
A61B6/03 330B
F-Term (6):
4C093AA22 ,  4C093BA10 ,  4C093CA34 ,  4C093FA18 ,  4C093FA43 ,  4C093FA59
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
  • X線量低減方法
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-226130   Applicant:ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ
  • 特許第2704084号
  • X線CTスキャナ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平5-273833   Applicant:株式会社東芝
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