Pat
J-GLOBAL ID:200903023321521741
平面検出装置及び検出方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
,
Agent (3):
千葉 剛宏
, 宮寺 利幸
, 佐藤 辰彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004234944
Publication number (International publication number):2006053754
Application date: Aug. 11, 2004
Publication date: Feb. 23, 2006
Summary:
【課題】平面を規定する法線ベクトル及び基準とする撮像手段から平面までの距離を高精度且つ短時間で算出する。【解決手段】基準カメラ12及び参照カメラ14間の回転行列及び並進ベクトルをパラメータ記憶部26から読み出し、射影変換行列算出部28において射影変換行列を推定した後、平面パラメータ算出部30において、射影変換行列を特異値分解して得られる射影変換行列の定数倍の不定性を示す係数と、前記回転行列及び前記並進ベクトルとを用いて、平面を規定する法線ベクトル及び基準カメラ12から平面までの距離を算出する。【選択図】図2
Claim (excerpt):
撮像手段により撮像した画像から平面を検出する平面検出装置であって、
所定の位置関係に配置され、平面を含む相互に重複する領域の画像を撮像する一対の撮像手段と、
一方の前記撮像手段の座標系を他方の前記撮像手段の座標系に変換する回転行列及び並進ベクトルをパラメータとして記憶するパラメータ記憶手段と、
一方の前記撮像手段により撮像された画像を変換し、前記画像に含まれる平面を他方の前記撮像手段により撮像された画像に含まれる平面に重畳させる射影変換行列を算出する射影変換行列算出手段と、
前記射影変換行列を特異値分解して前記射影変換行列の定数倍の不定性を示す係数を算出し、前記回転行列、前記並進ベクトル、前記係数及び前記射影変換行列を用いて、前記平面の法線ベクトルと、基準とする一方の前記撮像手段から前記平面までの距離とからなる平面パラメータを算出する平面パラメータ算出手段と、
を備えることを特徴とする平面検出装置。
IPC (2):
FI (4):
G06T1/00 315
, G06T1/00 330B
, G01B11/00 A
, G01B11/00 H
F-Term (34):
2F065AA03
, 2F065BB01
, 2F065BB15
, 2F065CC11
, 2F065CC40
, 2F065DD03
, 2F065DD06
, 2F065FF05
, 2F065JJ05
, 2F065JJ19
, 2F065QQ21
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065UU05
, 5B057AA16
, 5B057AA19
, 5B057BA02
, 5B057BA15
, 5B057CA08
, 5B057CA13
, 5B057CA16
, 5B057CC01
, 5B057CD11
, 5B057CH08
, 5B057CH11
, 5B057DA02
, 5B057DA07
, 5B057DA12
, 5B057DA16
, 5B057DB03
, 5B057DB09
, 5B057DC09
, 5B057DC16
, 5B057DC33
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
-
障害物検出方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-130451
Applicant:株式会社東芝
Cited by examiner (2)
Article cited by the Patent:
Return to Previous Page