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J-GLOBAL ID:200903023423488625
赤外線技術を用いて温度を測定する方法と装置
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
佐竹 弘
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997279309
Publication number (International publication number):1998185697
Application date: Sep. 03, 1997
Publication date: Jul. 14, 1998
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 放射計により測定されるエネルギー領域の境界を可視的に画定する方法および装置を提供すること。【解決手段】 この方法は、温度を測定する表面に対し2本を超えるレーザビーム14を照射するように構成されたレーザ照準装置12を放射計上に配設するステップと、エネルギー領域Eの境界を画定するように前記エネルギー領域の周囲にレーザビーム14を位置決めするステップとを包含している。この装置は、表面に対し2本を超えるレーザビーム14を照射するように構成されたレーザ照準装置12と、前記エネルギー領域の境界を画定するように前記エネルギー領域の周囲に前記レーザビームを位置決めするための手段とを包含している。これらのレーザビームはエネルギー領域の周縁の回りに回転させてもよい。
Claim (excerpt):
放射計を用いて温度を測定する表面上のエネルギー領域の境界を画定する方法であって、前記放射計と関連するレーザ装置を配設するステップと、前記装置により複数の少なくとも3本のレーザビームを前記表面に対し放射させて、前記エネルギー領域の境界を画定する相互に離間した別々の位置において前記表面を照射するためるステップとを包含する方法。
IPC (2):
FI (2):
G01J 5/02 Z
, G01J 1/06 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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複数ビーム光源装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-297644
Applicant:キヤノン株式会社
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放射温度計の照準装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-301457
Applicant:ミノルタ株式会社
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レーザセオドライトによる測距方法および測距用アダプター
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-022421
Applicant:株式会社ソキア
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配光特性測定器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-276126
Applicant:キヤノン株式会社
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特開昭57-022521
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