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J-GLOBAL ID：200903023660294339

情報記録方法及び情報記録装置

Inventor：
増井 成博

About 増井 成博


Applicant, Patent owner：
株式会社リコー

About 株式会社リコー


Agent (3)： 柏木 慎史 ,  小山 尚人 ,  柏木 明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003168616
Publication number (International publication number)：2005004906
Application date： Jun. 13, 2003
Publication date： Jan. 06, 2005
Summary：
【課題】特定のマーク長の記録パワーが他のマーク長の記録パワーとは異なった値で記録する方式において、各々の記録パワーの最適値を求め、精度よい記録を可能にする。【解決手段】特定のパターン=3Tを除く記録パワーを段階的に可変しながら所定の第1のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第1の最適記録パワーPw(opt)を算出する第1の試し書き工程と(S1〜S3)、特定のパターン=3Tについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された第1の最適記録パワーとして所定の第2のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から特定のパターンの最適記録パワーである第2の最適記録パワーPwex(opt)を算出する第2の試し書き工程と(S4〜S6)を備えることで、全てのマーク長を精度よく形成でき、精度のよい記録が可能となる。【選択図】 図6
Claim (excerpt)：
記録情報に基づき変調された光を光源から記録媒体に照射して記録マークを形成することにより情報の記録を行う情報記録方法において、 前記記録媒体の試し書き領域に対して、照射する記録パワーを段階的に可変しながら所定の第1のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から第1の最適記録パワーを算出する第1の試し書き工程と、 前記記録情報のうち特定のパターンについてはその記録パワーを段階的に可変し、その他のパターンについてはその記録パワーを算出された前記第1の最適記録パワーとして前記記録媒体の試し書き領域に対して所定の第2のテストデータを試し書きし、記録した試し書きデータの再生信号から前記特定のパターンの最適記録パワーである第2の最適記録パワーを算出する第2の試し書き工程と、 を備え、 算出されたこれらの第1及び第2の最適記録パワーを照射する記録情報に基づき情報の記録を行うようにしたことを特徴とする情報記録方法。
IPC (2)：
G11B7/0045 ,  G11B7/125
FI (2)：
G11B7/0045 B ,  G11B7/125 C
F-Term (25)：
5D090AA01 ,  5D090BB03 ,  5D090BB04 ,  5D090CC01 ,  5D090CC05 ,  5D090DD03 ,  5D090DD05 ,  5D090EE02 ,  5D090GG33 ,  5D090HH01 ,  5D090JJ12 ,  5D090KK03 ,  5D789AA23 ,  5D789BA01 ,  5D789BB02 ,  5D789BB03 ,  5D789DA01 ,  5D789EA07 ,  5D789EC09 ,  5D789HA16 ,  5D789HA19 ,  5D789HA25 ,  5D789HA45 ,  5D789HA48 ,  5D789HA50
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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