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J-GLOBAL ID：200903023669316947
X線分析用試料容器及び試料容器収容装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (2)：
中島 淳
, 加藤 和詳
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004065584
Publication number (International publication number)：2005257306
Application date： Mar. 09, 2004
Publication date： Sep. 22, 2005
Summary：
【課題】入射X線の入射角度及び回析X線の出射角度を任意に設定できると共に、高圧のガスにも適用でき、しかも小型化及び低コスト化を図ることができるX線分析用試料容器、及びこのX線分析用試料容器に対して所望のガスを容易に導入・排出できる試料容器収容装置を得る。 【解決手段】 X線分析用試料容器10では、試料22は、ドーム隔壁34及び載置台12により形成された密閉空間42内へ収容される。このドーム隔壁34は、ポリイミド膜により半球状に形成されているため、入射X線の入射角度を0度から90度までの全ての角度で任意に設定することができると共に、回折X線を0度から90度までの全ての出射角度でドーム部36から出射させて測定することができる。また、密閉空間42に高圧のガスを導入した場合でも、ドーム部36の半球状の内壁面にガス圧が均一に分散されると共に、ドーム部36の弾性変形範囲が広いため、高圧のガスにも耐えることができる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料が載置される載置台と、
X線が透過可能でかつガスが透過不能な高分子膜により半球状に形成され、前記試料を内部に収容した状態で前記載置台上に取り付けられて前記載置台と共に前記内部に密閉空間を形成するドーム隔壁と、
前記密閉空間に対してガスを導入・排出するためのガス導出手段と、
を備えたX線分析用試料容器。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (12)：
2G001AA01
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001GA13
, 2G001JA14
, 2G001JA20
, 2G001MA05
, 2G001NA01
, 2G001NA06
, 2G001PA07
, 2G001PA12
, 2G001QA01
