化合物の結晶化過程のモニター方法および結晶の製造方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：高島一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006152402
Publication number (International publication number)：2007077000
Application date： May. 31, 2006
Publication date： Mar. 29, 2007
Summary：

【課題】結晶化過程、特に結晶成長過程を経時的にモニターする方法、当該モニター方法を利用することを特徴とする結晶の製造方法を提供すること。【解決手段】本発明の化合物の結晶化過程のモニター方法は、近赤外(NIR)スペクトルを用いて行うものであり、具体的には、化合物を融点以上に加熱して溶融状態とした後から一定の温度で保存して結晶化に至るまでの間、化合物の分子構造を構成する官能基の吸光度がどのように変化するかを、近赤外分光計を用いて追跡することにより行われ、該モニター方法により得られる知見を用いて、粒度または結晶形が制御された結晶を製造することにより行われる。【選択図】なし

Claim (excerpt)：

化合物の結晶化過程における近赤外(NIR)スペクトルの吸光度の経時的変化を追跡し、吸光度変化の速度定数を解析することによりその粒度または結晶形をモニターし、所望の粒度または結晶形に達したことを確認後、結晶化を止めて、結晶を取得することを特徴とする化合物の結晶の製造方法。

IPC (5)：

C30B 29/58 , G01N 21/35 , G01N 15/02 , C30B 11/02 , C30B 7/08

FI (5)：

C30B29/58 , G01N21/35 Z , G01N15/02 Z , C30B11/02 , C30B7/08

F-Term (19)：

2G059AA01 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059EE01 , 2G059EE12 , 2G059FF04 , 2G059HH01 , 2G059MM01 , 2G059MM12 , 4G077AA01 , 4G077AB08 , 4G077AB09 , 4G077BF04 , 4G077CB02 , 4G077CD10 , 4G077EH04 , 4G077GA00 , 4G077GA06 , 4G077HA20

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

特開昭62-213803号公開明細書
粒度測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-074501 Applicant：日本たばこ産業株式会社
沃素化された有機X線造影剤の製造方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-524403 Applicant：ニユコメド・イメージング・アクシエセルカペト

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Cited by examiner (4)

特開昭63-101322
結晶化過程を光学的に監視する結晶質シリカ粒子の製造方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-220808 Applicant：洞海化学工業株式会社
沃素化された有機X線造影剤の製造方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-524403 Applicant：ニユコメド・イメージング・アクシエセルカペト

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Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

The use of near infra-red spectroscopy to detect changes in the form of amorphous and crystalline la

Cited by examiner (1)

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