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J-GLOBAL ID:200903024560109859
固体試料の絶対蛍光量子効率測定方法及び装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002015942
Publication number (International publication number):2003215041
Application date: Jan. 24, 2002
Publication date: Jul. 30, 2003
Summary:
【要約】【課題】 従来の固体試料の絶対蛍光量子効率測定方法においては、励起光に対して透過率がゼロである試料にしか適用できないか、又は試料の透過率に依存せずに用いることが出来るとしても、測定装置全体の相対分光感度を校正することが出来ないために、精密に量子効率を決定することが出来ないという問題があった。【解決手段】本願発明においては、分光放射照度標準電球を用いて装置全体の分光感度校正を行なう。これに基づき、励起光単独のスペクトル、励起光を固体試料に照射し、該試料が発する蛍光のスペクトルを測定することにより、固体の絶対蛍光量子効率を測定することができる。
Claim (excerpt):
固体試料の絶対蛍光量子効率測定方法であり、積分球に分光放射照度標準電球からの光を入射させ、この入射光に起因する光を測定することにより装置全体の分光感度を求め、また、固体試料を励起する励起光を入射させ、該励起光に起因する光を測定することにより、該励起光のみによるスペクトルを求め、次に、該試料に該励起光を照射し、そのスペクトルを測定することを特徴とする固体試料の絶対蛍光量子効率測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01N 21/64 Z
, G01J 3/02 C
F-Term (29):
2G020AA04
, 2G020BA18
, 2G020CA01
, 2G020CB23
, 2G020CB24
, 2G020CB43
, 2G020CC02
, 2G020CD04
, 2G020CD14
, 2G020CD23
, 2G020CD24
, 2G043AA06
, 2G043CA05
, 2G043EA01
, 2G043GA03
, 2G043GB21
, 2G043HA01
, 2G043HA02
, 2G043HA04
, 2G043HA05
, 2G043JA02
, 2G043JA04
, 2G043JA08
, 2G043KA02
, 2G043LA02
, 2G043LA03
, 2G043NA05
, 2G043NA06
, 2G043NA13
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
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蛍光体の量子効率測定方法および測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-314335
Applicant:松下電器産業株式会社
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特開昭50-141383
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発光素子の外部量子効率測定方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-015940
Applicant:独立行政法人産業技術総合研究所
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