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J-GLOBAL ID：200903026606938700

クロマトグラフ質量分析装置

Inventor：
下村 学

About 下村 学


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999112274
Publication number (International publication number)：2000304735
Application date： Apr. 20, 1999
Publication date： Nov. 02, 2000
Summary：
【要約】【課題】 SIM測定による定量分析の精度を改善する。【解決手段】 イオンセット内で同一のサンプリング時間を設定して予備測定を行い(S3)、各目的成分の質量数毎のマスクロマトグラムを取得する。各目的成分のピークを検出してピーク面積を計算し(S4)、各目的成分毎にピーク面積とサンプリング時間との積が同一になるようにサンプリング時間を割り振る(S5)。その結果、検出感度の高い成分に対しては相対的に短いサンプリング時間が割り当てられる。このように最適化されたサンプリング時間を設定して本測定を実行し(S6)、その結果に基づき定量分析等の解析を行う(S7)。
Claim (excerpt)：
異なる質量数を有する複数の目的成分のイオンを所定時間内で順次検出する選択イオンモニタリング測定を実行するクロマトグラフ質量分析装置において、a)同一サンプリング時間でもって上記複数の目的成分に対する測定を実行し、その結果得られるクロマトグラム中で各目的成分に対するピークを取得する予備測定実行手段と、b)予備測定により取得された各ピークの高さ又は面積を算出するピーク処理手段と、c)該ピーク処理手段により得られた目的成分の各ピークの高さ又は面積に応じて、そのピークの高さ又は面積が小さいほどサンプリング時間が長くなるように前記所定時間内で各サンプリング時間を分配する時間割当手段と、d)該時間割当手段により決められたサンプリング時間でもって上記複数の目的成分に対する測定を実行する測定実行手段と、を備えることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (5)：
G01N 30/72 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/02 ,  G01N 30/86 ,  H01J 49/26
FI (6)：
G01N 30/72 A ,  G01N 27/62 C ,  G01N 30/02 Z ,  G01N 30/86 Q ,  G01N 30/86 Z ,  H01J 49/26
F-Term (2)：
5C038HH16 ,  5C038HH26
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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