Pat
J-GLOBAL ID：200903026756895898
電離層モデル補正方法
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (8)：
鈴江 武彦
, 河野 哲
, 中村 誠
, 蔵田 昌俊
, 峰 隆司
, 福原 淑弘
, 村松 貞男
, 橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006165048
Publication number (International publication number)：2007333527
Application date： Jun. 14, 2006
Publication date： Dec. 27, 2007
Summary：
【課題】現実に則した電離層電子密度分布を決定することの可能な電離層モデル補正方法を提供する。【解決手段】衛星信号(GPS、Galileo、QZS等)の複数周波を観測することにより衛星信号が通過する途中の総電子数TECをリアルタイムに求め、その値とIRIやBentモデルなどの電離層モデルに基づくTEC値とをと比較することにより、電離層モデルを補正するためのパラメータを算出する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
複数の測位衛星から送信され第1および第2の周波数を含む衛星信号を電離層の通過後に地上において観測し、その結果に基づいて前記第1および第2の周波数に基づく前記測位衛星までの擬似距離を算出し、
前記第1の周波数に基づく擬似距離と前記第2の周波数に基づく擬似距離との差分に基づいて前記衛星信号の通過経路における総電子数の観測値を算出し、
電離層モデルに基づいて前記衛星信号の通過経路における総電子数のモデル値を算出し、
前記観測値と前記モデル値との差分を最小にすべく、前記電離層モデルを表現するパラメータの補正値を算出し、
前記補正値に基づいて前記電離層モデルを補正することを特徴とする電離層モデル補正方法。
IPC (3)：
G01W 1/08
, G01S 5/14
, G01N 22/00
G01W1/08 P
, G01S5/14
, G01N22/00 D
5J062AA08
, 5J062AA09
, 5J062CC07
, 5J062DD03
, 5J062EE02
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Cited by examiner (6)
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Article cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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