放射線検査装置

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：波多野久 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002097586
Publication number (International publication number)：2003294658
Application date： Mar. 29, 2002
Publication date： Oct. 15, 2003
Summary：

【要約】【課題】反射(後方散乱)法において、高輝度の後方散乱成分を蛍光体で発光させ、光検出器が受ける光子のロスを少なくして高コントラストの撮像を得る。【解決手段】被検体4に向けて放射線を放出する放射線源3と、放出された放射線をコリメートする入射ビーム整形孔5aと被検体4で反射(散乱)され、被検体から反射された成分の中で、特定位置4aからの反射成分だけを通過させる反射ビーム通過溝5bとを有するコリメータ5と、前記反射ビーム通過溝5bを通過した成分を可視光に変換する蛍光体6と、その蛍光体6からの発光を集光する光コレクタ7とからなるセンサヘッド2と、前記光コレクタ7で集光された光を検出し蛍光信号として信号処理する光検出器8と、光コレクタ7で集光された光を、光コレクタ内に複数の光ファイバ9aの端部を設け、上記光ファイバ9aの他端を光検出器8に接続して光検出器8まで伝送する伝送系9とを備えた構成とする。

Claim (excerpt)：

被検体に向けて放射線を放出する放射線源と、放出された放射線をコリメートする入射ビーム整形孔と、被検体で反射(散乱)され、被検体から反射された成分の中で、特定位置からの反射成分だけを通過させる反射ビーム通過溝とを有するコリメータと、前記反射ビーム通過溝を通過した成分を可視光に変換する蛍光体と、その蛍光体からの発光を集光する光コレクタとからなるセンサヘッドと、前記光コレクタで集光された光を検出し蛍光信号として信号処理する光検出器と、光コレクタで集光された光を、光コレクタ内に複数の光ファイバの端部を設け、上記光ファイバの他端を光検出器に接続して光検出器まで伝送する伝送系とを備えたことを特徴とする放射線検査装置。

IPC (3)：

G01N 23/203 , G01T 1/20 , G01T 7/00

FI (3)：

G01N 23/203 , G01T 1/20 C , G01T 7/00 B

F-Term (25)：

2G001AA01 , 2G001AA02 , 2G001AA10 , 2G001BA15 , 2G001CA01 , 2G001CA02 , 2G001DA01 , 2G001DA02 , 2G001DA06 , 2G001DA10 , 2G001GA04 , 2G001HA12 , 2G001HA13 , 2G001JA06 , 2G001LA02 , 2G001SA02 , 2G001SA10 , 2G001SA13 , 2G001SA30 , 2G088EE29 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088GG15 , 2G088JJ02 , 2G088JJ12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (8)

特開平1-156642
特表昭62-502912
特開平2-205760

Show all

Return to Previous Page