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J-GLOBAL ID:200903027111686395

円二色性スペクトルの測定方法及び測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 浜野 孝雄 ,  平井 輝一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2008098471
Publication number (International publication number):2009250765
Application date: Apr. 04, 2008
Publication date: Oct. 29, 2009
Summary:
【課題】 従来のCDスペクトル測定方法とは光学配置を全く変えることにより、上記した従来の問題点を解決し、小さな光源で短時間にCDスペクトルを測定することを可能にする円二色性スペクトルの測定方法及び測定装置を提供すること。【解決手段】 本発明に係る円二色性スペクトル測定方法は、白色光源から出射した白色光を、単色光に分光せずにサンプルに照射し、サンプルから出力された光を分光し、分光した光の光強度を電荷結合素子を用いたセンサを有する検出器で検出し、検出器による検出結果に基づいてサンプルの円二色性スペクトルを測定することを特徴とする。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
白色光源から出射した白色光を、単色光に分光せずにサンプルに照射し、 サンプルから出力された光を分光し、 分光した光の光強度を電荷結合素子を用いたセンサを有する検出器で検出し、 検出器による検出結果に基づいてサンプルの円二色性スペクトルを測定する ことを特徴とする円二色性スペクトル測定方法。
IPC (1):
G01N 21/19
FI (1):
G01N21/19
F-Term (12):
2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB08 ,  2G059GG06 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ19 ,  2G059KK04 ,  2G059LL02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (9)
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