分布型光ファイバセンサ

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (4)：小谷悦司 , 伊藤孝夫 , 樋口次郎 , 櫻井智
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007133074
Publication number (International publication number)：2008286697
Application date： May. 18, 2007
Publication date： Nov. 27, 2008
Summary：

【課題】本発明は、歪み及び/又は温度をより高精度で測定可能な分布型光ファイバセンサを提供する。【解決手段】本発明に係る、ブリルアン散乱現象を利用して歪み及び/又は温度を測定する分布型光ファイバセンサでは、メイン光パルスと、メイン光パルスに先立ち、最大光強度がメイン光パルスの光強度よりも小さく、エネルギーが立ち上がりからメイン光パルスの立ち上がりまで最大光強度で一定の光パルスにおけるエネルギーよりも小さいサブ光パルスとが検出用光ファイバ15に入射され、連続光が検出用光ファイバ15に入射され、そして、検出用光ファイバ15から射出されるこれら光の相互作用によって生じるブリルアン散乱現象に係る光に基づいて検出用光ファイバ15に生じた歪み及び/又は温度が測定される。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

ブリルアン散乱現象を利用して歪み及び/又は温度を測定する分布型光ファイバセンサにおいて、メイン光パルスと、前記メイン光パルスに先立ち、最大光強度が前記メイン光パルスの光強度よりも小さく、エネルギーが立ち上がりから前記メイン光パルスの立ち上がりまで前記最大光強度で一定の光パルスにおけるエネルギーよりも小さいサブ光パルスとを生成する光パルス光源と、連続光を生成する連続光光源と、前記サブ光パルス及び前記メイン光パルスと前記連続光とが入射され、前記サブ光パルス及び前記メイン光パルスと前記連続光との間でブリルアン散乱現象が生じる検出用光ファイバと、前記検出用光ファイバから射出されるブリルアン散乱現象に係る光に基づいてブリルアン・ゲイン・スペクトル又はブリルアン・ロス・スペクトルを求め、求めた前記ブリルアン・ゲイン・スペクトル又はブリルアン・ロス・スペクトルに基づいて前記検出用光ファイバに生じた歪み及び/又は温度を測定するブリルアン時間領域検出計とを備えることを特徴とする分布型光ファイバセンサ。

IPC (3)：

G01B 11/16 , G01D 5/353 , G01K 11/12

FI (3)：

G01B11/16 Z , G01D5/26 D , G01K11/12 F

F-Term (28)：

2F056VF02 , 2F056VF03 , 2F056VF11 , 2F056VF12 , 2F056VF16 , 2F056VF20 , 2F065AA65 , 2F065CC00 , 2F065CC14 , 2F065FF00 , 2F065FF32 , 2F065FF51 , 2F065GG08 , 2F065LL00 , 2F065LL02 , 2F065LL21 , 2F065LL67 , 2F065NN01 , 2F065QQ23 , 2F103BA37 , 2F103CA07 , 2F103EB02 , 2F103EB08 , 2F103EB18 , 2F103EC08 , 2F103EC09 , 2F103EC10 , 2F103ED37

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

国際公開第2006/001071号パンフレット
分布型光ファイバセンサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2006-063818 Applicant：ニューブレクス株式会社
光ファイバひずみ計測方法およびその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-123290 Applicant：日本電信電話株式会社

Show all

Article cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

PPP-BOTDA測定技術を用いた10cm分解能ブリルアン分布計測の実現

Return to Previous Page