近接測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：川口義雄 (外1名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000572689
Publication number (International publication number)：2002525641
Application date： Sep. 08, 1999
Publication date： Aug. 13, 2002
Summary：

【要約】近接測定装置(70)は、連結されたコードを含む基準識別特徴コードでコード化された識別信号を発生して、質問放射として放出する質問装置(80)を備える。また、質問放射を受信し、それを復調してその識別特徴コードを抽出して、次にある遅延時間後にそれを再変調して戻り放射として再放出する応答装置(90)を組み込んでいる。質問装置(80)は戻り放射をアンテナ(260)で受信して復調して、識別特徴コードを抽出して、次にコードを基準コードと相関させて、互いの相関関係を決定する。質問装置(80)は、アンテナ(260)の走査方向を制御し、また、質問放射が放出されてから対応する戻り放射が受信されるまでの時間遅延を測定する、コンピュータ(290)を組み込む。

Claim (excerpt)：

(a)質問放射を受信し、質問放射に応答して戻り放射を放出する応答手段(90)と、 (b)質問手段(80)の応答手段(90)に対する近接を決定するために、質問放射を発生して放出し、また戻り放射を受信する質問手段(80)と、を組み込む近接測定装置(70)であって、 (c)質問手段(80)が、質問放射を、複数の連結されたデータシーケンスから成る識別特徴コードでコード化するように構成され、 (d)応答手段(90)が、質問放射を受信し、また戻り放射を識別特徴コードでコード化するように構成され、これによって、質問手段(80)が、質問放射を戻り放射に関連付けることを可能とする、ことを特徴とする近接測定装置(70)。

IPC (3)：

G01S 13/74 , G01S 13/93 , G08G 1/16

FI (3)：

G01S 13/74 , G01S 13/93 Z , G08G 1/16 E

F-Term (25)：

5H180AA01 , 5H180AA21 , 5H180AA25 , 5H180AA26 , 5H180CC02 , 5H180CC03 , 5H180CC07 , 5H180CC12 , 5H180CC14 , 5H180LL01 , 5H180LL04 , 5H180LL07 , 5J070AB15 , 5J070AB24 , 5J070AD01 , 5J070AD02 , 5J070AE01 , 5J070AF03 , 5J070AG03 , 5J070AH39 , 5J070AJ13 , 5J070AK07 , 5J070BC03 , 5J070BC13 , 5J070BF12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (11)

タグの識別装置
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