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J-GLOBAL ID：200903029881713725

誤り訂正装置および誤り訂正方法

Inventor：
大山 達史

About 大山 達史

, 
永井 宏樹

About 永井 宏樹

, 
山内 英樹

About 山内 英樹


Applicant, Patent owner：
三洋電機株式会社

About 三洋電機株式会社


Agent (1)： 深見 久郎 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000207160
Publication number (International publication number)：2001292066
Application date： Jul. 07, 2000
Publication date： Oct. 19, 2001
Summary：
【要約】【課題】 回路規模を増大させることなく、誤り検査処理に対する時間を短縮することが可能な誤り訂正装置を提供する。【解決手段】 データバッファ14は、第1の方向および第2の方向の誤り訂正が可能な積符号を含むデータを受けて一時的に格納する。排他的論理和演算回路9は、第1の方向の誤り訂正によって検出された誤り量と、記憶素子11に格納されたデータを用いて第1の誤り検査結果を算出する。PI方向誤り検査回路3は、第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂正後の誤り検査を行ない、PO方向部分誤り検査回路8およびPO方向集計誤り検査回路6は、第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用いて、第2の誤り検査結果を算出する。第1および第2の誤り検査結果により、排他的論理和演算回路5は、最終的な誤り検査結果を生成する。
Claim (excerpt)：
データブロックの第1の方向および第2の方向の誤り訂正が可能な積符号を有する誤り訂正符号を含む被訂正データに対する誤り訂正処理を行なう誤り訂正演算手段を備え、前記誤り訂正演算手段は、前記積符号の第1の方向を訂正する第1の誤り訂正手段と、前記第2の方向を訂正する第2の誤り訂正手段とを含み、前記被訂正データを格納することが可能な第1の記憶素子と、前記誤り訂正演算手段による訂正が誤訂正でないことを確認するために、誤り検査符号による誤り検査を行なう誤り検査手段とを備え、前記誤り検査符号は、前記データブロックの第1の方向のデータに誤り検査符号を連続的に設けたものであって、前記誤り検査手段は、前記第1の方向の誤り訂正によって検出された誤り量と、前記第1の記憶素子に格納されたデータとを用いて第1の誤り検査結果を算出する第1の論理演算手段と、前記第1の誤り検出結果に応じて、第1の方向の誤り訂正後の誤り検査を行なう第1方向誤り検査手段と、前記第2の方向の誤り訂正時に検出された誤り量を用いて、第2の誤り検査結果を算出し、前記第1および前記第2の誤り検査結果の論理演算を行なうことで、前記第2の方向の誤り訂正後の誤り検査を行なう第2方向誤り検査手段とを含む、誤り訂正装置。
IPC (7)：
H03M 13/29 ,  G06F 11/10 330 ,  G11B 20/18 512 ,  G11B 20/18 536 ,  G11B 20/18 544 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18
FI (7)：
H03M 13/29 ,  G06F 11/10 330 S ,  G11B 20/18 512 E ,  G11B 20/18 536 A ,  G11B 20/18 544 Z ,  G11B 20/18 572 C ,  G11B 20/18 572 F
F-Term (17)：
5B001AA13 ,  5B001AB02 ,  5B001AC02 ,  5B001AD06 ,  5B001AE02 ,  5J065AA01 ,  5J065AB01 ,  5J065AC03 ,  5J065AD02 ,  5J065AD13 ,  5J065AE06 ,  5J065AF01 ,  5J065AF03 ,  5J065AG02 ,  5J065AH04 ,  5J065AH05 ,  5J065AH06
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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