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J-GLOBAL ID：200903030247545702

光散乱・吸収体の光学的測定装置

Inventor：
岩本 慎一

About 岩本 慎一


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995251892
Publication number (International publication number)：1997072845
Application date： Sep. 04, 1995
Publication date： Mar. 18, 1997
Summary：
【要約】【目的】 装置関数の較正を行なって正確な測定をできるようにする。【構成】 プローブ20では送受光部間ピッチが決まっており、受光面積が距離aに影響を与えないほど小さい場合には、μa・μs’を求める式中で未知数としての装置定数はln(k1/k2)のみであるので、1種類のキャリブレータ22にプローブ20を装着して測定を行ない、装置定数ln(k1/k2)をln(k1/k2)=(a1-a2)(3μa・μs’)1/2 - ln(S2/S1) - ln(a2/a1)2として求める。受光面積が距離aに影響を与えるほど大きい場合や、距離aにずれがある場合には、未知数としての装置定数は1/(a2-a1)と{1/(a2-a1)}ln(k1a22/k2a12)の2つになるので、2種類の較正用キャリブレータを用いて測定を行ない、連立方程式を解いて装置定数を決定する。求められた装置定数は較正部を実現するCPUに保持され、未知試料24にプローブ20を装着して測定を行なう際に使用される。
Claim (excerpt)：
光散乱・吸収体である被検体の一部に測定光を入射し、その被検体上で前記測定光の入射点から離れた受光点で測定光を受光するとともに、入射点と受光点との距離を複数種類に異ならせるように入射点と受光点のうちの一方が複数個設けられているプローブを備えた測定光学系と、受光点と入射点の1つの組における受光点と入射点との距離をa1、その組の受光点での受光強度をI1、そのときの受光器の出力信号をS1とし、受光点と入射点の他の組における受光点と入射点との距離をa2、その組の受光点での受光強度をI2、そのときの受光器の出力信号をS2としたとき、前記プローブの入射点が共通で受光点が複数のとき、S1=k1I1(k1は入射点からの距離a1にある受光点の受光器の定数)、S2=k2I2(k2は入射点からの距離a2にある受光点の受光器の定数)として、【数1】に基づいてμa・μs’を求め、前記プローブの入射点が複数で受光点が共通のとき、受光点からの距離a1にある入射点への入射光強度をIo1、受光点からの距離a2にある入射点への入射光強度をIo2とし、S1=kI1、S2=kI2(kは受光点の受光器の定数)として、【数2】に基づいてμa・μs’を求める演算部と、を備えたことを特徴とする光学的測定装置。ただし、μa;吸収係数μs’=(1-g)μs;μs;散乱係数g;散乱の非等方性パラメータ
IPC (3)：
G01N 21/27 ,  A61B 5/14 310 ,  G01N 33/483
FI (3)：
G01N 21/27 Z ,  A61B 5/14 310 ,  G01N 33/483 C
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (3)

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