複合偏光板の検査方法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴木崇生 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999341526
Publication number (International publication number)：2001159582
Application date： Dec. 01, 1999
Publication date： Jun. 12, 2001
Summary：

【要約】【課題】複合偏光板を構成する無反射層が形成された位相差板表面に存在する欠陥を効果的にかつ簡便に検査し得る検査方法を提供する。【解決手段】位相差板13と直線偏光板12とが積層されてなる複合偏光板10の位相差板13側に光源3から光を照射してその反射光を検光子5を通して観察する複合偏光板13の検査方法であって、検光子5は、複合偏光板10の位相差板13の面内レターデーションと等しい面内レターデーションである検光子位相差板7と検光子直線偏光板9とが積層されてなり、検光子位相差板7側を複合偏光板10側に位置するように配設された検光子5であり、複合偏光板の直線偏光板12と検光子直線偏光板9とをクロスニコルにすると共に、複合偏光板10の位相差板13の遅相軸と検光子位相差板7の遅相軸とを互いに直交させる。

Claim (excerpt)：

位相差板と直線偏光板とが積層されてなる複合偏光板の前記位相差板側に光を照射してその反射光を検光子を通して観察する複合偏光板の検査方法であって、前記検光子は、前記複合偏光板の位相差板の面内レターデーションと等しい面内レターデーションである検光子位相差板と検光子直線偏光板とが積層されてなり、前記検光子位相差板側を前記複合偏光板側に位置するように配設された検光子であり、前記複合偏光板の直線偏光板と前記検光子直線偏光板とをクロスニコルにすると共に、前記複合偏光板の位相差板の遅相軸と前記検光子位相差板の遅相軸とを互いに直交させることを特徴とする複合偏光板の検査方法。

IPC (4)：

G01M 11/00 , G01B 11/30 , G02F 1/1335 510 , G02B 5/30

FI (5)：

G01M 11/00 T , G01B 11/30 A , G01B 11/30 H , G02F 1/1335 510 , G02B 5/30

F-Term (27)：

2F065AA49 , 2F065BB01 , 2F065BB17 , 2F065CC21 , 2F065DD00 , 2F065DD12 , 2F065FF42 , 2F065FF49 , 2F065GG02 , 2F065JJ03 , 2F065JJ12 , 2F065LL33 , 2F065LL34 , 2F065LL35 , 2G086EE10 , 2H049BA02 , 2H049BA06 , 2H049BB03 , 2H049BC01 , 2H091FA08X , 2H091FA08Z , 2H091FA11X , 2H091FA11Z , 2H091FC29 , 2H091FC30 , 2H091LA01 , 2H091LA12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

反射型偏光体の欠陥検出装置及び欠陥検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-271137 Applicant：積水化学工業株式会社
シート状物の欠陥検査装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-043287 Applicant：住友化学工業株式会社
透明シートの検査方法とその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-176877 Applicant：株式会社日立製作所, 日東電工株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

綜説応用光学 (下巻), 1954, p.40〜42
綜説應用光学 (下巻), 1954, p.40〜42

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