検査装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：正林真之 , 林一好 , 新山雄一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2008007362
Publication number (International publication number)：2009168636
Application date： Jan. 16, 2008
Publication date： Jul. 30, 2009
Summary：

【課題】検出対象を迅速、安価、簡便且つ高精度に定量でき、反応容器の洗浄を効率化できる検査装置を提供すること。【解決手段】検体を検査する検査装置10は、反応容器が移動する移動路23と、この移動路23の検体導入位置231に位置する反応容器内に検体を導入する検体導入部33と、233に位置する反応容器内に第1試薬を導入する第1試薬導入部43と、除去位置235に位置する反応容器内の物体を除去する洗浄機構50と、磁場を形成する磁石80と、を備える。この磁石80は、除去位置235の近傍を除くエリアに設けられ、磁場を形成する。【選択図】図8

Claim (excerpt)：

検体を検査する検査装置であって、反応容器が移動する移動路と、この移動路の導入位置に位置する前記反応容器内に検体及び検査試薬を導入する導入手段と、前記移動路の除去位置に位置する前記反応容器内の物体を除去する除去手段と、前記移動路の磁場エリアに磁場を形成する磁場形成手段と、を備え、前記磁場エリアは、前記導入位置の下流であり且つ前記除去位置の近傍を除くエリアである検査装置。

IPC (1)：

G01N 35/04

FI (1)：

G01N35/04 A

F-Term (4)：

2G058AA09 , 2G058CB04 , 2G058CD04 , 2G058GA03

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (5)

特公昭58-ll575号公報
下限臨界溶液温度を有する磁性微粒子
Gazette classification：再公表公報 Application number：JP2001007119 Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所, チッソ株式会社
磁性粒子を用いた沈殿分画測定方法および測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-008084 Applicant：株式会社日立製作所, 飯田眞司

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Cited by examiner (5)

自動分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-320912 Applicant：株式会社東芝
自動分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平11-076727 Applicant：オリンパス光学工業株式会社
特開平4-271823

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