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J-GLOBAL ID：200903031262896348

X線画像化方法

Inventor：
エアハルト パオル アルトゥル クロッツ

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ライナー ハインリヒ コッペ

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ジョン オプ デ ベーク

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ハンス アエルツ

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Applicant, Patent owner：
フィリップス エレクトロニクス ネムローゼ フェンノートシャップ

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Agent (1)： 伊東 忠彦 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997128456
Publication number (International publication number)：1998057365
Application date： May. 19, 1997
Publication date： Mar. 03, 1998
Summary：
【要約】【課題】 本発明は、第1の画像化装置により再生可能な解剖学的構造及び再生不能な構造が準三次元再生され得るX線画像化方法の提供を目的とする。【解決手段】 第1の画像化装置で二次元X線画像系列が形成、記憶され、被検査対象物が異なる見方からX線画像ピックアップ装置に投影される本発明の方法は、第2の画像化装置で同一の被検査対象物の三次元画像を形成し、三次元画像から被検査対象物の関連した構造を取得し、個々のX線画像の形成中に実際の構造の際と同じ幾何学的パラメータを用いて投影された上記構造の合成二次元投影画像を計算し、合成投影画像と同一幾何学的条件下で形成されたX線画像との重ね合わせにより重ね合わせ画像を形成し、重ね合わせ画像系列を表示する。
Claim (excerpt)：
第1の画像化装置を用いて二次元X線画像の系列(D1 ...Di ...Dn )が形成され、ディジタル的に記憶され、被検査対象物(3,5)が異なる見方からX線画像ピックアップ装置上に投影されるX線画像化方法であって、a)第2の画像化装置(2)を用いて同一の被検査対象物の三次元画像(CT1 ...CTm )を形成する段階と、b)上記の三次元画像から被検査対象物の関連した構造(122)を得る段階と、c)個々のX線画像の形成中に実際の構造に対し使用された幾何学的パラメータと同一の幾何学的パラメータで投影された上記得られた構造の合成二次元投影画像(P1 ...Pi ...Pn )を計算する段階と、d)上記の合成投影画像(P1 ...Pi ...Pn )と、同一の幾何学的条件下で形成されたX線画像(D1 ...Di ...Dn )とを重ね合わせることにより、重ね合わせ画像(U1 ...Ui ...Un )を形成する段階と、e)重ね合わせ画像の系列(U1 ...Ui ...Un )を表示する段階とからなることを特徴とする方法。
IPC (5)：
A61B 6/00 360 ,  A61B 6/00 370 ,  A61B 6/03 360 ,  A61B 6/03 377 ,  G06T 1/00
FI (5)：
A61B 6/00 360 Z ,  A61B 6/00 370 ,  A61B 6/03 360 G ,  A61B 6/03 377 ,  G06F 15/62 390 C
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (1)

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