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J-GLOBAL ID：200903031665149933

検量線移植方法

Inventor：
尾崎 幸洋

About 尾崎 幸洋

, 
渡 正博

About 渡 正博


Applicant, Patent owner：
横河電機株式会社

About 横河電機株式会社


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004046030
Publication number (International publication number)：2005233882
Application date： Feb. 23, 2004
Publication date： Sep. 02, 2005
Summary：
【課題】類似サンプル間での検量線の移植が可能な検量線の移植方法を提供。【解決手段】測定対象サンプルの値とスペクトルセットが既知の第1サンプルから検量線を作成し、第1サンプルの検量線レンジに入っている第2サンプルのうち一つを変換用サンプルスペクトルとして選定し、第1サンプルの検量線データから変換用サンプルの測定対象の濃度近傍にある濃度の2つのスペクトルから変換用スペクトルサンプルと同じ濃度の第1サンプルでスペクトルを作成し、変換用サンプルスペクトルと同じ濃度をもつ第1サンプルのスペクトルの差スペクトルを取り、第2サンプルの変換用スペクトルと第2サンプルのリファレンススペクトルの差スペクトルから単位濃度あたりのスペクトルを得、第1サンプルのスペクトルセットにそれぞれの測定対象の濃度に応じた差スペクトルを加えて第2サンプルのスペクトルセットを作成しこれを使用して第2サンプルの検量線を作成する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
下記の工程により検量線を移植することを特徴とする検量線移植方法。 1. サンプルに含まれる測定対象の値とスペクトルセットが既知の第1サンプルから検量線を作成する工程と、 2. 第1サンプルの検量線レンジに入っている第2サンプルのうち一つをスペクトルを変換用サンプルスペクトルとして選定する工程と、 3. 第1サンプルの検量線データから前記変換用サンプルの測定対象の濃度近傍にある濃度の2つのスペクトルから前記変換用スペクトルサンプルと同じ濃度の第1サンプルでスペクトルを作成する工程と、 4. 前記変換用サンプルスペクトルと同じ測定対象の濃度をもつ前記第1サンプルのスペクトルの差スペクトルを取る工程と、 5. 前記第2サンプルの変換用スペクトルと第2サンプルのリファレンススペクトルの差スペクトルから単位濃度あたりのスペクトルを得る工程と、 6.第1サンプルのスペクトルセットにそれぞれの測定対象の濃度に応じた差スペクトルを加えて新しい第2サンプルのスペクトルセットを作成する工程と、 7.新しい第2サンプルのスペクトルセットを使用して第2サンプルの検量線を作成する工程。
IPC (2)：
G01N21/27 ,  G01N21/35
FI (2)：
G01N21/27 F ,  G01N21/35 Z
F-Term (17)：
2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM02 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059MM17
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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