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J-GLOBAL ID:200903031992802071
コンピュータ断層撮影装置
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
三好 秀和 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993046219
Publication number (International publication number):1994258257
Application date: Mar. 08, 1993
Publication date: Sep. 16, 1994
Summary:
【要約】【目的】 被検体に応じてX線源から発生するX線エネルギを切り換えても最良の断層像を常に得ることができるコンピュータ断層撮影装置を提供する。【構成】 X線源切り換え手段で切り換えられたX線源1からのX線エネルギに対応して主検出器7および比較検出器9に入射するX線量をそれぞれ調整する主検出器用フィルタ、比較検出器用フィルタをX線源切り換え手段の切り換え動作に応じてフィルタ切り換え機構8によって同時に切り換えることができる。
Claim (excerpt):
X線源からX線を発生し、このX線を被検体に向けて照射し、被検体を透過したX線を主検出器で検出するとともに、X線源から発生するX線の強度を検出すべく被検体を透過しないX線源からのX線を比較検出器で検出し、該比較検出器で検出したX線強度データを参照しながら前記主検出器で検出したX線透過データに基づいて被検体の断層像を構成するコンピュータ断層撮影装置であって、前記X線源から発生するX線エネルギを切り換えるX線源切り換え手段と、該X線源切り換え手段で切り換えられたX線源からのX線エネルギに対応して前記主検出器および前記比較検出器に入射するX線量をそれぞれ調整する主フィルタ手段および比較フィルタ手段と、前記X線源切り換え手段の切り換え動作に応じて前記主フィルタ手段および比較フィルタ手段をそれぞれ同時に切り換えるフィルタ切り換え手段とを有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
IPC (2):
G01N 23/04
, A61B 6/03 320
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (15)
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特開平2-087049
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特開平3-297211
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特開平4-369111
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X線撮像方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-222535
Applicant:エツクスライド株式会社
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シンチレータの加工方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-186429
Applicant:信越化学工業株式会社
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特開平2-020111
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特開昭62-171327
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特開平4-141156
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特開平1-301154
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特開平4-253414
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特開平4-207620
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特開昭52-079748
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特開昭57-063921
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特開平3-190314
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弾性表面波フィルタ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-032270
Applicant:富士通株式会社
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