Pat
J-GLOBAL ID:200903032042243617

超伝導素子、それを用いた中性子検出装置及び超伝導素子の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5): 三枝 英二 ,  舘 泰光 ,  眞下 晋一 ,  松本 公雄 ,  立花 顕治
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004101498
Publication number (International publication number):2005286245
Application date: Mar. 30, 2004
Publication date: Oct. 13, 2005
Summary:
【課題】 良好な超伝導特性の経時劣化を防止することができる超伝導素子、それを用いた中性子検出装置及び超伝導素子の製造方法を提供すること。 【解決手段】 誘電体材料で形成された基板(1)と、基板上(1)にメアンダ形状に形成された超伝導材料のストリップライン(2)と、ストリップライン(2)の表面に形成された保護膜(3)と、導電材料の電極(4、4’)とを備え、ストリップライン(2)を形成する超伝導材料が自然酸化によって超伝導特性が劣化する材料である。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
誘電体材料で形成された基板と、 該基板上に形成された超伝導材料のストリップラインと、 該ストリップラインの表面に形成された保護膜とを備え、 前記超伝導材料が、自然酸化によって超伝導特性が劣化する材料であることを特徴とする超伝導素子。
IPC (4):
H01L39/00 ,  C01G1/00 ,  G01T1/26 ,  G01T3/00
FI (4):
H01L39/00 Z ,  C01G1/00 S ,  G01T1/26 ,  G01T3/00 G
F-Term (23):
2G088FF09 ,  2G088GG22 ,  2G088GG25 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ31 ,  2G088JJ35 ,  2G088JJ37 ,  2G088KK40 ,  4G047JA04 ,  4G047JC16 ,  4G047KE05 ,  4G047KE06 ,  4G047KG01 ,  4G047LA07 ,  4G047LB10 ,  4M113AC44 ,  4M113AD36 ,  4M113AD63 ,  4M113BA04 ,  4M113BA08 ,  4M113BC01 ,  4M113CA16
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page