測距装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：鈴江武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994167731
Publication number (International publication number)：1996029675
Application date： Jul. 20, 1994
Publication date： Feb. 02, 1996
Summary：

【要約】【目的】本発明は、構図内の主要被写体を測距し、プリ測距による精度劣化を対策して且つ低消費エネルギー及びタイムラグの短かい測距装置を提供することを目的とする。【構成】本発明は、任意のポイントを測距可能なマルチAF部1と、測距ポイントの変更を行う投光方向切換部2と、カメラのピント合せ部3と、測距用光のパワーを制御するパワーコントロール部7と、プリ測距で受光した反射信号光量によりAF結果が良否を判定する∞判定部6と、判定基準レベルを設定するレベル切換部9と、レベル切換及び測距装置全体を制御するCPU10とで構成され、CPU10には、カメラのレリーズボタンの半押し状態により閉成される第1レリーズSW4及び第2レリーズSW5と、1st SW4,2nd SW5の入力タイミングを計時するタイマ8とを備える測距装置である。

Claim (excerpt)：

測距対象物に向けて測距用光を投光する投光手段と、上記測距対象物からの反射光を受光し、上記測距対象物までの距離に応じた光電変換信号を出力する受光手段と、この受光手段からの上記光電変換信号に基づいて無限遠判定を行う判定手段と、上記投光手段による上記測距用光の投光量または投光回数を切換える光量切換手段と、この光量切換手段によって上記投光量または投光回数が切換られた際に、上記判定手段による無限遠の判定レベルを切換える判定レベル切換手段と、を具備したことを特徴とする測距装置。

IPC (3)：

G02B 7/32 , G01C 3/06 , G03B 13/36

FI (2)：

G02B 7/11 B , G03B 3/00 A

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (7)

測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-040739 Applicant：キヤノン株式会社
特開平4-351077
特開平4-065628

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Cited by examiner (9)

測距装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-040739 Applicant：キヤノン株式会社
特開平4-351077
特開平4-351077

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