Pat
J-GLOBAL ID:200903033513074884
内視鏡システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (5):
鈴江 武彦
, 村松 貞男
, 坪井 淳
, 河野 哲
, 風間 鉄也
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002290127
Publication number (International publication number):2004121546
Application date: Oct. 02, 2002
Publication date: Apr. 22, 2004
Summary:
【課題】本発明は、いかなる条件下でも計測対象の計測を可能にし、ステレオ計測の計測精度を向上できる内視鏡システムを提供することを最も主要な特徴とする。【解決手段】被検体を計測内視鏡1によって計測する際に、リモコン61の計測最適化ボタン92を操作することにより、計測内視鏡1による計測環境を最適化するものである。【選択図】 図10
Claim (excerpt):
被検体を計測可能な計測内視鏡を備えた内視鏡システムにおいて、
前記計測内視鏡による計測環境を最適化する補正手段を設けたことを特徴とする内視鏡システム。
IPC (3):
A61B1/00
, A61B1/06
, G02B23/24
FI (8):
A61B1/00 300E
, A61B1/00 300Y
, A61B1/00 310G
, A61B1/00 320A
, A61B1/00 334D
, A61B1/06 A
, G02B23/24 A
, G02B23/24 B
F-Term (27):
2H040BA07
, 2H040BA09
, 2H040BA15
, 2H040CA11
, 2H040CA12
, 2H040CA13
, 2H040DA03
, 2H040DA12
, 2H040GA02
, 2H040GA11
, 4C061AA29
, 4C061BB06
, 4C061CC06
, 4C061DD03
, 4C061FF32
, 4C061FF40
, 4C061FF50
, 4C061GG15
, 4C061GG22
, 4C061HH32
, 4C061HH52
, 4C061NN10
, 4C061QQ07
, 4C061RR02
, 4C061RR15
, 4C061RR17
, 4C061RR24
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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電子内視鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-264132
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
計測内視鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-058114
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
内視鏡装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-058105
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
-
特開昭64-068233
-
内視鏡用測長具
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-241734
Applicant:土井譲
-
内視鏡用メジャー
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-050545
Applicant:旭光学工業株式会社
-
縫合器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-144304
Applicant:オリンパス光学工業株式会社
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