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J-GLOBAL ID：200903033948776260

結晶粒径測定方法及び装置

Inventor：
橋本 和樹

About 橋本 和樹


Applicant, Patent owner：
住友金属工業株式会社

About 住友金属工業株式会社


Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998193435
Publication number (International publication number)：2000028512
Application date： Jul. 08, 1998
Publication date： Jan. 28, 2000
Summary：
【要約】【課題】 鋼板又はメッキの材質,コーティング膜の厚さ又はそのばらつき,及び鋼板のその厚さ方向のばたつき等の影響がなく、これらの状態に応じた標準サンプルでの結晶粒径真値と輝度閾値とを求める必要がなく、標準サンプルを必要としない高精度な結晶粒径測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 撮像器3によって撮像された撮像画像を量子化し、量子化結果に基づいて輝度に対する度数分布を生成し、この度数分布における度数の最大値に対応する輝度を輝度閾値として2値化し、2値化結果に応じて抽出したスパングル等の結晶粒の粒径を演算する画像処理部4を備える構成とする。
Claim (excerpt)：
撮像器を用いて被測定面を撮像し、撮像結果を量子化し、量子化結果を所定の輝度閾値に基づいて2値化することによって前記被測定面に析出する所定種類の結晶粒を識別し、識別された前記所定種類の結晶粒の画素数に応じた面積を演算し、該面積に対応する円の直径を演算し、演算結果に基づいて前記結晶粒の粒径を算出することにより、前記粒径の測定を行なう結晶粒径測定方法において、前記量子化結果に基づいて輝度に対する度数分布を求める第1ステップと、前記度数分布に基づいて前記所定の輝度閾値を求める第2ステップとを有することを特徴とする結晶粒径測定方法。
IPC (2)：
G01N 15/02 ,  G01N 33/20
FI (2)：
G01N 15/02 B ,  G01N 33/20 M
F-Term (12)：
2G055AA03 ,  2G055AA07 ,  2G055AA09 ,  2G055BA05 ,  2G055BA09 ,  2G055BA20 ,  2G055CA02 ,  2G055CA07 ,  2G055CA13 ,  2G055CA18 ,  2G055EA08 ,  2G055FA02
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
  • 濃淡画像の特徴領域抽出装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-273213   Applicant：新日本製鐵株式会社
  • 金属組織評価法及びシステム
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-280031   Applicant：東北電力株式会社, バブコック日立株式会社
  • 流出スラグの検出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-298175   Applicant：東海カーボン株式会社
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