Pat

J-GLOBAL ID：200903034059627160

AE・超音波検出システム、及びそれを備えた材料監視装置並びに非破壊検査装置

Inventor： 李 政律 ,  津田 浩 ,  荒川 敬弘 ,  中島 富男
Applicant, Patent owner： 独立行政法人産業技術総合研究所 ,  石川島検査計測株式会社
Agent (3)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006223176
Publication number (International publication number)：2008046036
Application date： Aug. 18, 2006
Publication date： Feb. 28, 2008
Summary：

【課題】FBGが温度、およびひずみ変化を受けてブラッグ波長が変動しても、常にFBGが受けるAE・超音波を検出可能にするシステムを提供する。【解決手段】本発明によるAE・超音波検出システムでは、FBGからの反射光をFBGの反射波長幅以上のFSRを有するファブリ・ペローフィルタに入射している。その透過光強度変化はFBGが受けるAE・超音波に対応するものである。また、FBGからの反射光をFSRがFBGの反射波長幅以上であり、フィルタの透過率ピーク波長がFSR/4だけ異なる2つのファブリ・ペローフィルタに入射する。2つのファブリ・ペローフィルタの透過光強度を電圧信号に変換して、両信号を加算、および減算処理することにより、FBGが受けるAE・超音波に対応した大きな振幅を有する信号を得ることができる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

広帯域波長光を発する広帯域光源と、 被検体に取り付けられ、前記広帯域波長光が入射するFBGセンサと、 周期的な透過特性を有し、前記FBGセンサからの反射光或いは透過光の一部を透過させるフィルタと、 前記フィルタの透過光の強度を電気信号に変換する光電変換手段と、 を備えることを特徴とするAE・超音波検出システム。

IPC (2)：

G01N 29/00 ,  G01N 29/14

FI (2)：

G01N29/00 501 ,  G01N29/14

F-Term (4)：

2G047BA05 ,  2G047CA04 ,  2G047EA08 ,  2G047GD01

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (3)

• 光ファイバセンサを用いたひずみ計測、および超音波・AE検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-145880   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
• 光ファイバセンサを用いたひずみとAEの計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2003-172321   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
• 超音波受信装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-107850   Applicant：富士写真フイルム株式会社

Cited by examiner (3)

• 光ファイバセンサを用いたひずみ計測、および超音波・AE検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2004-145880   Applicant：独立行政法人産業技術総合研究所
• 分布型物理量計測方法及び計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-110225   Applicant：日立電線株式会社
• 波長計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2002-326860   Applicant：富士電機システムズ株式会社