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J-GLOBAL ID：200903034207389649

位相コントラストX線撮像装置

Inventor：
百生 敦

About 百生 敦


Applicant, Patent owner：
株式会社日立製作所

About 株式会社日立製作所


Agent (1)： 高橋 明夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997067554
Publication number (International publication number)：1998248833
Application date： Mar. 21, 1997
Publication date： Sep. 22, 1998
Summary：
【要約】【課題】 広い観察視野を確保できる位相コントラストX線撮像装置の提供。【解決手段】 入射するX線を第1ビームと第2ビームに分離する第1ハーフミラー1と、前記第1ビームを第3ビームと第4ビームに分離する第2ハーフミラー2bと、前記第2ビームを第5ビームと第6ビームに分離する第3ハーフミラー2aと、前記第4ビームと被写体を介して得られる前記第5ビームを結合する第4ハーフミラー3と、前記第1乃至第4ハーフミラーの位置関係を調整するミラー調整機構40、41と、前記第4ハーフミラーで結合されたビームを検出する検出器59と、前記検出器の出力に基づいて前記被写体の像を得る処理部60とを有する。
Claim (excerpt)：
入射するX線を相互に干渉する二つのビームにするための第1のハーフミラーと、該二つのビームの一つに被写体を挿入して得られるビームと他の一つのビームとを結合する第2のハーフミラーと、該第2のハーフミラーで結合されたビームを検出する検出器と、該検出器の出力に基づいて前記被写体の像を得る処理部とからなり、前記第1のハーフミラーおよび第2のハーフミラーを共通の除振台上に設置するとともに、両ハーフミラーの少なくとも一つはそれぞれのハーフミラーの相対的な位置関係を調整するミラー調整機構を介して共通の除振台上に設置することにより観察視野を2cm角を超えるものとしたことを特徴とする位相コントラストX線撮像装置。
IPC (5)：
A61B 6/00 330 ,  A61B 6/00 300 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G21K 1/06
FI (5)：
A61B 6/00 330 Z ,  A61B 6/00 300 J ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/06 ,  G21K 1/06 M
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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