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J-GLOBAL ID:200903034661540807
測定システム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
雨貝 正彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997293628
Publication number (International publication number):1999120477
Application date: Oct. 09, 1997
Publication date: Apr. 30, 1999
Summary:
【要約】【課題】 ネットワークに接続された測定制御装置から測定装置による測定を起動することができ、測定装置ごとの測定データ処理プログラムを作成することなしに測定制御装置によるデータ処理が可能な測定システムを提供すること。【解決手段】 分散型測定システムは、コンピュータネットワーク90を介して接続された測定制御装置10と分散型測定装置50とを含んでいる。分散型測定装置50は、測定器としての機能とコンピュータとしての機能を有しており、測定モジュール52、HTTPサーバ処理部54、測定制御サーバ処理部56を含んでいる。HTTPサーバ処理部54から測定制御装置10に対して、測定制御や測定データ処理に必要なプログラムを含むハイパーテキストが提供され、測定制御装置10から送られてくる動作指示が測定制御サーバ処理部56によって受信される。
Claim (excerpt):
所定の測定動作を行う測定装置と、前記測定装置と所定のネットワークを介して接続されて前記測定装置の制御を行う測定制御装置とを有する測定システムであって、前記測定装置と前記測定制御装置との間のデータの送受をウェブ技術を用いて行うことを特徴とする測定システム。
IPC (2):
G08C 19/00 301
, G06F 13/00 357
FI (2):
G08C 19/00 301 A
, G06F 13/00 357 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (7)
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特開昭59-177697
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計測器制御方法および計測器
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-209133
Applicant:株式会社日立製作所
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ウェブ・ブラウザのリクエストを実行するための方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-128657
Applicant:インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション
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自動計測システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平9-009726
Applicant:安藤電気株式会社
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特開昭63-184104
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特開平4-118518
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トータルステーション
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-093769
Applicant:旭光学工業株式会社
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