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J-GLOBAL ID：200903034683811758

三次元形状測定装置

Inventor： 吉澤 徹 ,  殿岡 雅仁 ,  山本 将之 ,  大谷 幸利
Applicant, Patent owner： 株式会社ニデック
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998082587
Publication number (International publication number)：1999257930
Application date： Mar. 13, 1998
Publication date： Sep. 24, 1999
Summary：

【要約】【課題】 反射表面を持つ測定対象物に対して安価な構成で高精度に三次元形状を測定することができる。また、大面積のものも一度にとらえてスピーディーな測定が可能になる。【解決手段】 一方向に正弦波状の濃淡輝度を持つ縞パターンが平行に形成された縞パターン板を備え、反射表面を備える測定対象物の表面形状を測定する三次元形状測定装置において、表面形状に応じた情報を含んで測定対象物の表面で反射された縞パターンを撮像し、得られた画像情報に基づいて測定対象物の表面形状を求める。

Claim (excerpt)：

反射表面を備える測定対象物の表面形状を測定する三次元形状測定装置において、一方向に正弦波状の濃淡輝度を持つ縞パターンが平行に形成された縞パターン板と、前記測定対象物の表面形状に応じた情報を含んで反射される前記縞パターンを撮像する撮像手段と、該撮像手段による画像情報に基づいて前記測定対象物の表面形状を求める形状解析手段と、を備えることを特徴とする三次元形状測定装置。

IPC (2)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/30 101

FI (2)：

G01B 11/24 E ,  G01B 11/30 101 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 表面形状3次元計測方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-004596   Applicant：松下電工株式会社
• 特開平4-278406
  
• 3次元形状計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-273808   Applicant：シヤープ株式会社
• 特開昭58-122409
  
• 特開昭61-260107