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J-GLOBAL ID：200903035063412787

画像解析システム、及び画像解析プログラム

Inventor：
藤田 廣志

About 藤田 廣志

, 
中川 俊明

About 中川 俊明

, 
林 佳典

About 林 佳典


Applicant, Patent owner：
国立大学法人岐阜大学

About 国立大学法人岐阜大学

, 
タック株式会社

About タック株式会社


Agent (2)： 前田 勘次 ,  大矢 正代
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007062899
Publication number (International publication number)：2008220617
Application date： Mar. 13, 2007
Publication date： Sep. 25, 2008
Summary：
【課題】ステレオ画像から高い精度で対応点の抽出を行い、撮影対象物の深度情報をより正確に算出する画像解析システム及び画像解析プログラムを提供する。【解決手段】単一の撮影対象物を異なる撮影位置からカラー撮影して得た二以上の画像のうち任意の一対の第一画像及び第二画像の画像データを、画像解析コンピュータ10に取り込んで解析する画像解析システムであって、画像解析コンピュータは、第一画像内の任意の対照点周りに設定した第一局所領域、及び同一の大きさで第二画像内を走査させる第二局所領域のそれぞれにおいて、画素情報値のコントラストの大きさに基づいて画素情報値に重み係数を付与して第一局所領域及び第二局所領域の類似度を算出し、類似度の最も高い第二局所領域から対照点に対応する対応点を抽出する対応点抽出手段30と、対応点及び対照点の座標に基づいて撮影対象物の深度情報を算出する深度情報算出手段41とを具備する。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
単一の撮影対象物を異なる撮影位置からそれぞれカラー撮影して得た二以上の画像のうち、任意の一対の第一画像及び第二画像の画像データを、画像解析コンピュータに取り込んで解析する画像解析システムであって、 前記画像解析コンピュータは、 前記第一画像内の任意の対照点周りに設定した第一局所領域、及び、該第一局所領域と同一の大きさに設定し前記第二画像内を走査させる第二局所領域のそれぞれにおいて、画素の特徴を記述する画素情報値のコントラストの大きさに基づいて、前記画素情報値に重み係数を付与して前記第一局所領域及び前記第二局所領域の類似度を算出し、該類似度の最も高い前記第二局所領域から前記対照点に対応する対応点を抽出する対応点抽出手段と、 前記対照点及び前記対応点の座標に基づいて前記撮影対象物の深度情報を算出する深度情報算出手段と を具備することを特徴とする画像解析システム。
IPC (5)：
A61B 3/10 ,  G06T 1/00 ,  A61B 3/12 ,  G01B 11/22 ,  G01B 11/24
FI (5)：
A61B3/10 Z ,  G06T1/00 290Z ,  A61B3/12 E ,  G01B11/22 H ,  G01B11/24 K
F-Term (27)：
2F065AA25 ,  2F065AA26 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF05 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ26 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ43 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5B057AA07 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057DA07 ,  5B057DA17 ,  5B057DC03 ,  5B057DC32
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (7)
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Cited by examiner (6)
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