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J-GLOBAL ID：200903035483477825

回路基板の導通検査装置、導通検査方法、導通検査用治具および記録媒体

Inventor：
山岡 秀嗣

About 山岡 秀嗣


Applicant, Patent owner：
オー・エイチ・ティー株式会社

About オー・エイチ・ティー株式会社


Agent (1)： 大塚 康徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998329842
Publication number (International publication number)：2000155149
Application date： Nov. 19, 1998
Publication date： Jun. 06, 2000
Summary：
【要約】【課題】 検査対象の電流路におけるインピーダンスを下げることによって、SN比を向上させた回路基板導通検査装置および方法を提案する。【解決手段】 検査対象の基板上のパターン線の両端子の一方に非接触で結合容量を形成し、この容量にインダクタンス(450)とリード線とを接続する。他方の端子には、リード線を介してコンタクト方式で交流検査信号を印加する。容量、インダクタンス、パターン線とで共振回路が形成され、インピーダンスダンスを下げた状態で、出力信号を検出する。
Claim (excerpt)：
第1と第2の端子を基板上に有するパターン線が設けられた基板の、前記第1と第2の端子間の導通を検査する導通検査装置において、前記第1の端子と、非接触方式で結合容量を有して容量結合する容量結合手段と、この容量結合手段の容量と共振回路を形成すべく、前記容量結合手段に接続された誘導性素子と、この誘導性素子に接続された第1のリード線と、第2のリード線に接続され前記第2の端子に接触するプローブ手段と、前記第1のリード線と第2のリード線のいずれか一方に、交流成分を含む検査信号を入力する信号入力手段と、前記第1のリード線と第2のリード線のいずれか他方に、前記検査信号の出力を検出する信号検出手段とを具備することを特徴とする回路基板の導通検査装置。
IPC (5)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 ,  G01R 31/28 ,  G01R 31/302 ,  H05K 3/00
FI (5)：
G01R 31/02 ,  G01R 1/06 E ,  H05K 3/00 T ,  G01R 31/28 K ,  G01R 31/28 L
F-Term (27)：
2G011AA01 ,  2G011AA02 ,  2G011AA15 ,  2G011AB01 ,  2G011AC09 ,  2G011AC33 ,  2G011AD01 ,  2G011AE01 ,  2G011AF06 ,  2G014AA13 ,  2G014AB59 ,  2G014AC10 ,  2G032AC03 ,  2G032AD01 ,  2G032AD04 ,  2G032AD07 ,  2G032AD08 ,  2G032AE08 ,  2G032AE12 ,  2G032AF02 ,  2G032AF09 ,  2G032AF10 ,  2G032AG09 ,  2G032AH02 ,  2G032AH03 ,  2G032AK04 ,  2G032AL04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)

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