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J-GLOBAL ID:200903035576363188
埋設物の探査方法および装置
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
西教 圭一郎
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996013750
Publication number (International publication number):1997211145
Application date: Jan. 30, 1996
Publication date: Aug. 15, 1997
Summary:
【要約】【課題】 土壌への電磁波の放射後から地中埋設物による反射波を受信完了するまでの時間経過に伴って、高周波増幅手段の増幅度が大きくなるように変化する複数の増幅度・時間パターンのうち、最適なパターンを選択すること。【解決手段】 土壌の走査の方向の第1の距離ΔDだけ移動する間に複数の各増幅度・時間パターンで増幅手段の増幅度を変化してその増幅手段の出力を第2メモリにストアするストア動作を予め定める第2の距離L1にわたって繰返し、各増幅度・時間パターン毎に、土壌の表面からその表面近傍の予め定める深度DP1まで、深さ方向の各位置毎に第2距離L1にわたって反射波の強度の平均値Pjzを求め、各パターン毎の前記平均値Pjzの最大値と最小値とが、増幅手段の増幅ダイナミックレンジ内にありかつそのダイナミックレンジのほぼ全域にわたるパターンを最適なものとして選択する。
Claim (excerpt):
埋設物が埋設されている隠蔽場所の表面に沿って移動しつつ、隠蔽場所に電磁波を放射し、埋設物による反射波を受信し、放射した電磁波と受信した反射波との時間差に基づいて隠蔽場所内の埋設物を探査する埋設物の探査方法において、予め定める第1の距離Δdだけ移動する間に、受信した反射波を、増幅度が時間経過に伴って大きくなるように変化する複数の増幅度・時間パターンで、増幅してメモリにストアし、このメモリへのストア動作を、予め定める第2の距離L1にわたって繰返し、前記各パターン毎に、隠蔽場所の表面からその表面近傍の予め定める深度DP1まで、深さ方向の各位置毎に第2の距離L1にわたって反射波の強度の平均値Pjzまたは平均値Pjzに対応する値を求め、前記各パターン毎に、前記平均値Pjzまたは平均値Pjzに対応する値の最大値と最小値とを求め、各パターンのうち、最大値と最小値とが、増幅ダイナミックレンジ内で、飽和する程度N12jが最小であるパターンを、最適なパターンとして選択し、この最適なパターンで増幅してメモリにストアされた反射波のデータを用いて、埋設物を探査することを特徴とする埋設物の探査方法。
IPC (3):
G01V 3/12
, G01S 7/28
, G01S 13/88
FI (3):
G01V 3/12 B
, G01S 7/28 B
, G01S 13/88 G
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開平4-323590
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断面画像の濃淡調整方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-043586
Applicant:大阪瓦斯株式会社
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埋設物の探査方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-288861
Applicant:大阪瓦斯株式会社
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特公平7-069431
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特公平6-019430
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