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J-GLOBAL ID：200903035699403001

質量分析装置

Inventor： 奥村 昭彦 ,  平林 集
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000118489
Publication number (International publication number)：2001297730
Application date： Apr. 14, 2000
Publication date： Oct. 26, 2001
Summary：

【要約】【課題】高感度で高分解能な飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】ガス管6を通してヘリウムガスが導入されている四重極イオントラップ5にイオンを蓄積した後、イオンを射出して高真空部8に移送し、加速電極9においてイオンの進行方向に対して直角に電場加速して飛行時間質量分析を行う。【効果】遺伝子や蛋白など微量の高分子量試料を高速かつ高精度に分離分析できる。

Claim (excerpt)：

四重極イオントラップと四重極イオントラップからイオンを射出するイオン射出手段と射出されたイオンをその進行方向に直交する方向に加速する加速部と加速されたイオンの飛行時間を測定する飛行時間測定部とを備えることを特徴とする質量分析装置。

IPC (2)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62

FI (3)：

H01J 49/42 ,  G01N 27/62 K ,  G01N 27/62 L

F-Term (5)：

5C038FF07 ,  5C038FF10 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07 ,  5C038JJ09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 質量分析計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-011239   Applicant：株式会社日立製作所
• 唾液の分析方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平10-174620   Applicant：株式会社日立製作所