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J-GLOBAL ID：200903037005555449

全反射減衰を利用したセンサー

Inventor：
納谷 昌之

About 納谷 昌之


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (1)： 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000392490
Publication number (International publication number)：2002195942
Application date： Dec. 25, 2000
Publication date： Jul. 10, 2002
Summary：
【要約】【課題】 光ビームを誘電体ブロックと金属膜との界面で収束させる構成を有する表面プラズモンセンサーにおいて、光利用効率を高くして表面プラズモン共鳴を高感度で測定可能とし、またスペックルによるノイズ発生を防止する。【解決手段】 誘電体ブロック13と、この誘電体ブロック13の一面に形成されて試料15に接触させられる金属膜14と、光ビームLを発する光源16と、光ビームLを誘電体ブロック13と金属膜14との界面13aで収束するように入射させる入射光学系17、18と、界面13aで全反射した光ビームLの強度を測定する光検出手段とからなる表面プラズモンセンサーにおいて、光検出手段を、全反射した光ビームLを、反射角が異なる成分が一方向に連なる向きにライン状に集光するシリンドリカルレンズ20と、このライン状に集光された光ビームLを検出する、該ラインの方向に延びる受光部を有する光検出器21とから構成する。
Claim (excerpt)：
誘電体ブロックと、この誘電体ブロックの一面に形成されて試料に接触させられる薄膜層と、光ビームを発生させる光源と、前記光ビームを前記誘電体ブロックに対して、該誘電体ブロックと前記薄膜層との界面で全反射条件が得られ、かつ、該界面で収束光あるいは発散光の状態となるように入射させる入射光学系と、前記界面で全反射した光ビームの強度を測定して、全反射減衰の状態を検出する光検出手段とを備えてなる全反射減衰を利用したセンサーにおいて、前記光検出手段が、前記界面で全反射した光ビームを、反射角が異なる成分が一方向に連なる向きにライン状に集光するシリンドリカルレンズと、このライン状に集光された光ビームを検出する、該ラインの方向に延びる受光部を有する光検出器とを含んで構成されていることを特徴とする全反射減衰を利用したセンサー。
F-Term (12)：
2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059DD13 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059GG01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK04 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059NN01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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