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J-GLOBAL ID：200903037553641752

シール描画検査装置、および、シール描画検査方法

Inventor：
高橋 祐邦

About 高橋 祐邦


Applicant, Patent owner：
シャープ株式会社

About シャープ株式会社


Agent (1)： 石田 耕治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003279480
Publication number (International publication number)：2005043290
Application date： Jul. 24, 2003
Publication date： Feb. 17, 2005
Summary：
【課題】本発明は、コストUPを抑制しつつ、シール描画について精度の高い検査を行うことを課題とする。【解決手段】本発明に係るシール描画検査装置は、基板30などの対象物上にシール剤40の描画状態の検査を行うための装置であって、対象物30に描画されたシール剤40の仮焼きを行う仮焼き手段60、および、仮焼き手段60により仮焼きがなされている対象物上のシール剤の描画状態を検査する検査手段50を備えることを特徴とする。【選択図】図2
Claim (excerpt)：
基板などの対象物上にシール剤の描画状態の検査を行うためのシール描画検査装置であって、 前記対象物に描画されたシール剤の仮焼きを行う仮焼き手段、 および、前記仮焼き手段により仮焼きがなされている対象物上のシール剤の描画状態を検査する検査手段を備える ことを特徴とするシール描画検査装置。
IPC (5)：
G01N21/84 ,  G01B11/00 ,  G01M11/00 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1339
FI (5)：
G01N21/84 Z ,  G01B11/00 H ,  G01M11/00 T ,  G02F1/13 101 ,  G02F1/1339 505
F-Term (42)：
2F065AA03 ,  2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065CC25 ,  2F065FF41 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065PP03 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ33 ,  2F065QQ34 ,  2F065TT07 ,  2G051AA65 ,  2G051AA73 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB12 ,  2G051BA01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA07 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05 ,  2G086EE10 ,  2H088FA03 ,  2H088FA11 ,  2H088FA17 ,  2H088FA21 ,  2H088FA30 ,  2H089NA39 ,  2H089NA45 ,  2H089NA53 ,  2H089NA60 ,  2H089QA09 ,  2H089QA12
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)

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