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J-GLOBAL ID：200903037673016037

埃検出装置および埃検出方法

Inventor： 田中 利夫
Applicant, Patent owner： ダイキン工業株式会社
Agent (1)： 津川 友士
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996327298
Publication number (International publication number)：1998170424
Application date： Dec. 06, 1996
Publication date： Jun. 26, 1998
Summary：

【要約】【課題】 特別な光源、高精度の光学系などを用いることなく、微量な埃をも含めて埃の総量のほぼ正確な検出を達成でき、全体として安価にできる埃検出装置および埃検出方法を提供する。【解決手段】 所定のサンプリング周期毎に得られる埃検出出力を保持する埃検出出力保持手段12と、予め設定した所定期間内に得られ、かつ埃検出出力保持手段12に保持されている埃検出出力を評価して評価値を出力する評価手段13,14と、評価値を入力として埃の濃度を出力する濃度検出手段15とを含んでいる。

Claim (excerpt)：

埃粒子に起因する散乱光を受光して埃の濃度を検出する埃検出装置であって、所定のサンプリング周期毎に得られる埃検出出力を保持する埃検出出力保持手段(12)と、予め設定した所定期間内に得られた埃検出出力を評価して評価値を出力する評価手段(13)(14)と、評価値を入力として埃の濃度を出力する濃度検出手段(15)とを含むことを特徴とする埃検出装置。

IPC (2)：

G01N 15/06 ,  G01N 21/53

FI (3)：

G01N 15/06 D ,  G01N 15/06 C ,  G01N 21/53 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 微粒子検出兼用煙検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-000373   Applicant：ホーチキ株式会社
• 煙感知装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-347445   Applicant：シャープ株式会社
• 環境異常検出装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-212259   Applicant：ニッタン株式会社