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J-GLOBAL ID:200903037707230726
熱分光測定装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1997298707
Publication number (International publication number):1999133041
Application date: Oct. 30, 1997
Publication date: May. 21, 1999
Summary:
【要約】【課題】 光の回折限界以下の分解能で熱分光測定を行う。【解決手段】 可視光波長より小さい径の微小開口を有するプローブ3をその先端7aが試料表面に近接するように配置し、微小開口から試料の微小部分に向けて励起光Le を照射する。一方プローブ光Lp によりプローブ先端7a からエバネッセント光が出射され、励起光Le を試料Sの微小部分に照射している場合と照射ていしない場合のそれぞれについて、エバネッセント光が試料Sの微小部分と相互作用して生じる散乱光Ls1,Ls2を光検出手段6により検出する。
Claim (excerpt):
先端部に可視光波長よりも小さい径の微小開口を有し、先端を試料に近接させて配置されるプローブと、前記試料に吸収される波長を有する励起光を前記プローブに入力させて前記微小開口から前記試料の微小部分に照射せしめる励起光用光学手段と、前記試料に吸収されない波長を有するプローブ光を前記プローブに入力させて前記プローブの先端からエバネッセント光を出射させるプローブ光用光学手段と、前記エバネッセント光と、前記励起光が照射されている前記試料の微小部分とが相互作用することにより生じる第一の散乱光を検出する光検出手段とを備えたことを特徴とする熱分光測定装置。
IPC (2):
FI (2):
G01N 37/00 D
, G01B 11/30 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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暗視野型光熱変換分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-032237
Applicant:株式会社分子バイオホトニクス研究所
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走査型フォトントンネリング分光分析装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-008187
Applicant:富士写真フイルム株式会社
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プローブ走査型近接場光学顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-068767
Applicant:財団法人神奈川科学技術アカデミー
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光熱信号検出方法及び装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-082261
Applicant:株式会社日立製作所
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