タイヤ動的プロファイル測定方法

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：苗村正 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000307998
Publication number (International publication number)：2002116012
Application date： Oct. 06, 2000
Publication date： Apr. 19, 2002
Summary：

【要約】【課題】タイヤの動的プロファイルを広範囲に亘って容易に測定しうるとともに、高速回転においてもその測定精度を高いレベルで確保しうる。【解決手段】回転するタイヤの外周面を、タイヤ赤道面に中心点を有する円周線上を移動するレーザー変位計により、前記円周線の小円周ピッチ毎に、タイヤ周方向にスキャンする。前記小円周ピッチ毎に得られたタイヤの外周面との間の距離データを最大値から並べ、最小値から5〜30%の範囲内の距離データを回帰分析して、外周面予想位置を各小円周ピッチ毎に求める。

Claim (excerpt)：

回転するタイヤのタイヤプロファイルを測定するタイヤ動的プロファイル測定方法であって、リム組みされタイヤ軸廻りで回転するタイヤの外周面を、タイヤ赤道面に中心点を有する円周線上を一方のビード部から他方のビード部まで移動するレーザー変位計により、前記円周線の小円周ピッチ毎に、タイヤ周方向に多数点でスキャンし、該外周面の位置を測定するとともに、前記小円周ピッチ毎に得られた該レーザー変位計とタイヤの外周面との間の距離データを最小値から最大値まで順に並べるとともに、最小値から5〜30%の範囲内の距離データを回帰分析して、外周面予想位置を各小円周ピッチ毎に求めるとともに、各小円周ピッチの外周面予想位置を連ねることにより、回転するタイヤのタイヤプロファイルを求めることを特徴とするタイヤ動的プロファイル測定方法。

IPC (2)：

G01B 11/24 , B60C 19/00

FI (2)：

B60C 19/00 H , G01B 11/24 A

F-Term (16)：

2F065AA52 , 2F065BB16 , 2F065CC13 , 2F065FF09 , 2F065FF11 , 2F065GG12 , 2F065HH04 , 2F065JJ16 , 2F065MM04 , 2F065MM09 , 2F065PP05 , 2F065PP22 , 2F065QQ17 , 2F065QQ28 , 2F065QQ41 , 2F065UU06

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

タイヤ検査方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平4-097705 Applicant：横浜ゴム株式会社
タイヤ状態の評価装置および評価方法
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-504996 Applicant：サンエレクトリックユー.ケイ.リミテッド

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