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J-GLOBAL ID:200903038450578137

パターン形成方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003396089
Publication number (International publication number):2005156999
Application date: Nov. 26, 2003
Publication date: Jun. 16, 2005
Summary:
【課題】 パターン形成技術の低コスト化を可能にするパターン形成の新技術を提供する。【解決手段】 半導体基板1上の絶縁体膜2表面に加熱消滅性樹脂膜3を形成し、レーザービーム4で加熱消滅性樹脂膜3に熱エネルギー照射する。この熱エネルギーにより照射領域の加熱消滅性樹脂膜3は熱分解し消滅して加熱消滅性樹脂膜3のパターン形成がなされる。更に、全面に光照射6を行いエッチングマスク5aを形成しこれをエッチングマスクにして、プラズマを用いたドライエッチングにより絶縁体膜2をエッチング加工し絶縁体膜2に開口7を形成する。その後、酸素雰囲気あるいは窒素雰囲気中で加熱処理を施し、加熱消滅性樹脂からなるエッチングマスク5aを熱分解し完全に除去する。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
被処理基板表面に加熱消滅性樹脂膜を形成する工程と、前記加熱消滅性樹脂膜に対して選択的に熱エネルギー照射し、前記熱エネルギー照射領域の加熱消滅性樹脂膜を消滅させて加熱消滅性樹脂膜のパターンを形成する工程と、を含むパターン形成方法。
IPC (4):
G03F7/36 ,  C08G65/336 ,  G03F7/26 ,  H01L21/027
FI (4):
G03F7/36 ,  C08G65/336 ,  G03F7/26 513 ,  H01L21/30 565
F-Term (13):
2H096AA25 ,  2H096BA09 ,  2H096CA05 ,  2H096EA04 ,  2H096EA06 ,  2H096GA43 ,  2H096GA45 ,  2H096HA03 ,  2H096HA23 ,  2H096HA28 ,  4J005AA11 ,  4J005BD08 ,  5F046JA22
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (8)
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